Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII
     
     
 
Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII

Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII

Технические характеристики:

ускоряющее напряжение 200 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 0,3 нм



Назначение: Исследование микроструктуры и морфологии материалов, в т.ч. наноматериалов, в просвечивающим и сканирующих режимах
Производитель:
JEOL Ltd., Япония
Год выпуска: 1988

К списку оборудования


 
     
     


9