| Фото |
Наименование |
Лаборатория |
Назначение |
Технические характеристики |
|
Фурье ИК-спектрометр RX-1
|
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии |
Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. |
Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. Диап. 400 - 4000 cм-1, разрешение 1 см-1
|
|
Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния
|
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии |
Исследование структурных свойств, линейно-оптических характеристик, электронных свойств, адкомплексов на поверхности наноструктур. |
Вакуумный, диапазон 40 - 12000 см-1, разрешение 0.5 см-1, приставки абсолютного отражения, отражения с переменным углом, МНПВО
|
|
Микрораман LabRAM HR Visible
|
Лаборатория спектроскопии комбинационного рассеяния |
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов. |
Используемые лазеры возбуждения: 633 и 488 нм, решетка: 1800 штр/мм, диапазон от -5000 до 5000 обр. см, картографирование |
|
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12
|
Лаборатория ЭПР спектроскопии |
Исследование структурных дефектов в наноматериалах. |
Спектрометр: рабочая частота 9,6 ГГц, Hmax =1 Тл. Чувствительность 5*1014 спин/Тл.
Осветитель: исследование фотоиндуцированных процессов с участием дефектов в полупроводни-ковых структурах, в т.ч. наноструктурах.
Источник питания: обеспечение бесперебойной работы ЭПР-спектрометра после прекращения подачи электроэнергии в течение 40 мин, фильтр защиты от высокочастотных помех.
|
|
Вакуумный универсальный пост ВУП-5М
|
Лаборатория технологии напыления тонких пленок и многослойных наноструктур |
Напыление различных покрытий и формирование контактов для электрофизических измерений. |
Остаточн. давл.: P=10-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 0С
|
|
Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера
|
Лаборатория фемтосекундной нанофотоники |
Исследование оптических и нелинейно-оптических свойств материалов, в том числе наноматериалов. |
Фемтосекундный лазерный комплекс: Длительность импульса на выходе не более 100 фс. Энергия лазерного импульса до 4 мДж (1,25 мкм), до 400 мкДж (в диапазоне 0,9 - 1,5 мкм). Плавная перестройка длины волны в диапазоне от 0.9 до 10 мкм.
Пикосекундный лазер: На основной длине волны 1,064 мкм длительность импульса около 35 пс, энергия до 50 мДж. На длине волны второй гармоники 0,532 мкм энергия импульса до 25 мДж.
Система регистрации: в т.ч. для исследования оптических сигналов в видимом и инфракрасном диапазонах (0,6 - 1,7 мкм) и их кинетик, временное разрешение 3 нс.
|
|
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
|
Лаборатория реологии наноматериалов |
Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов. |
Мин. пористость от 5 А.
|
|
Сканирующий зондовый комплекс INTEGRA AURA с регулируемым внешним магнитным полем
|
Лаборатория зондовых методов в нанотехнологии и нанометрологии |
Изучение рельефа и физических свойств поверхности с использованием современных методов зондовой микроскопии |
вакуум до 10-2 Торр, нагрев образца до 150 °С с точностью до 0.05 °С ,с регулируемым внешним магнитным полем до 0.2 T
|
|
Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем
|
Лаборатория реологии наноматериалов |
Исследование микроструктуры материалов при температурах до 1500 С |
Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры
|
|
ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One
|
Лаборатория спектроскопических методов анализа |
Исследование оптических свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в инфракрасной области спектра Оптика KBr. |
Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см-1. Разрешение 0,5 см-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1
|
|
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
|
Лаборатория спектроскопических методов анализа |
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/
|
|
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford
|
Лаборатория электронной микроскопии и электронно-дифракционных методов анализа наноматериалов |
Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов) |
Растровый электронный микроскоп LeoSupra 50 VP
ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с
Комплект переоснащения имеющегося растрового электронного микроскопа LEO Supra 50VP
Безазотный энергодисперсионный спектрометр для рентгеноспектрального микроанализа к растровому электронному микроскопу LeoSupra 50 VP
|
|
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками
|
Лаборатория спектроскопических методов анализа |
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
|
|
Комплекс дифференциальнотермичес-кого и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA
|
Лаборатория термических методов анализа |
Проведение полного дифференциальнотермического и термогравиметрического анализа веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) |
Диапазон температур 20-1500оС; Скорость нагрева 0.01-100оС/мин; чувствительность 0.2 мкг, 0.06 мкВ; атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум (до 2 Торр), cкорость потока газа 0 - 1000 мл/мин
|
|
Сублиматор Labconco Freezone 18
|
Лаборатория криохимических технологий наноматериалов |
Криохимический синтез веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Объем камеры 0,3 м3, остаточное давление 3-5 Па, интервал температур -50-95 oС. Коллектор из нержавеющей стали с тефлоновым покрытием объёмом 18 л. Скорость удаления воды 10л/сутки.
|
|
Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500
|
Лаборатория спектроскопических методов анализа |
Исследование элементного состава материалов. Все элементы кроме H, N, O и 8а группы. Координатный детектор. Точность <5%. |
Дозатор для исследования твердых образцов методом атомно-эмиссионной спектроскопии. мощность лазера 18 МВт
|
|
|
КР-спектрометр EQUINOX 55 в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния FRA 106/S
|
Лаборатория молекулярной спектроскопии |
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Длина волны возб. 1.06 мкм, 400 мВт Nd:YAG
|
|
ИК-Фурье спектрометр Equinox-55 с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S
|
Лаборатория направленного неорганического синтеза наноматериалов (стр. 3, к. 166) |
Исследование электронных и колебательных (ИК и КР) спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ. |
Диапазон 50 - 25000 см-1, разрешение 0.25 см-1
|
|
Комплекс электрохимического оборудования
|
|
|
Электрохимическая система потенциостат/гальваностат AutoLab PGSTAT302
Электрохимическая система потенциостат Solartron 1287/ анализатор частот Solartron 1255B |
|
Комплекс спектрометров УФ-Видимой-ИК области
|
|
Измерение спектров пропускания, отражения и рассеяния в широком диапазоне от ИК до УФ. |
ИК-, УФ-, ВИД-, КР- спектрометры
Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer Lambda 950 с оптической скамьей.
Люминесцентный спектрометр LS-55 Perkin Elmer в комплекте с приставками.
ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One.
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
|
