Оборудование
     
     
 
Наименование:
Производитель:
Год выпуска с: по:
Технические характеристики:


Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
Фурье ИК-спектрометр RX-1 Фурье ИК-спектрометр RX-1
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур.

Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. Диап. 400 - 4000 cм-1, разрешение 1 см-1

Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии Исследование структурных свойств, линейно-оптических характеристик, электронных свойств, адкомплексов на поверхности наноструктур.

Вакуумный, диапазон 40 - 12000 см-1, разрешение 0.5 см-1, приставки абсолютного отражения, отражения с переменным углом, МНПВО

Микрораман LabRAM HR Visible Микрораман LabRAM HR Visible
Лаборатория спектроскопии комбинационного рассеяния Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов. Используемые лазеры возбуждения: 633 и 488 нм, решетка: 1800 штр/мм, диапазон от -5000 до 5000 обр. см, картографирование
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12 Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12
Лаборатория ЭПР спектроскопии Исследование структурных дефектов в наноматериалах. Спектрометр: рабочая частота 9,6 ГГц, Hmax =1 Тл. Чувствительность 5*1014 спин/Тл. 

Осветитель: исследование фотоиндуцированных процессов с участием дефектов в полупроводни-ковых структурах, в т.ч. наноструктурах. 

Источник питания: обеспечение бесперебойной работы ЭПР-спектрометра после прекращения подачи электроэнергии в течение 40 мин, фильтр защиты от высокочастотных помех.
Вакуумный универсальный пост ВУП-5М Вакуумный универсальный пост ВУП-5М
Лаборатория технологии напыления тонких пленок и многослойных наноструктур Напыление различных покрытий и формирование контактов для электрофизических измерений.

Остаточн. давл.: P=10-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 0С

Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера
Лаборатория фемтосекундной нанофотоники Исследование оптических и нелинейно-оптических свойств материалов, в том числе наноматериалов. Фемтосекундный лазерный комплекс: Длительность импульса на выходе не более 100 фс. Энергия лазерного импульса до 4 мДж (1,25 мкм), до 400 мкДж (в диапазоне 0,9 - 1,5 мкм). Плавная перестройка длины волны в диапазоне от 0.9 до 10 мкм. 

Пикосекундный лазер: На основной длине волны 1,064 мкм длительность импульса около 35 пс, энергия до 50 мДж. На длине волны второй гармоники 0,532 мкм энергия импульса до 25 мДж. 

Система регистрации: в т.ч. для исследования оптических сигналов в видимом и инфракрасном диапазонах (0,6 - 1,7 мкм) и их кинетик, временное разрешение 3 нс.
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
Лаборатория реологии наноматериалов Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов.

Мин. пористость от 5 А.

Сканирующий зондовый комплекс INTEGRA AURA с регулируемым внешним магнитным полем Сканирующий зондовый комплекс INTEGRA AURA с регулируемым внешним магнитным полем
Лаборатория зондовых методов в нанотехнологии и нанометрологии Изучение рельефа и физических свойств поверхности с использованием современных методов зондовой микроскопии

вакуум до 10-2 Торр, нагрев образца до 150 °С с точностью до 0.05 °С ,с регулируемым внешним магнитным полем до 0.2 T

Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем
Лаборатория реологии наноматериалов Исследование микроструктуры материалов при температурах до 1500 С

 Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры

ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование оптических свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в инфракрасной области спектра Оптика KBr.

Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см-1. Разрешение 0,5 см-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1

УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35 УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford
Лаборатория электронной микроскопии и электронно-дифракционных методов анализа наноматериалов Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Комплекс дифференциальнотермичес-кого и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA Комплекс дифференциальнотермичес-кого и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA
Лаборатория термических методов анализа Проведение полного дифференциальнотермического и термогравиметрического анализа веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов)

Диапазон температур 20-1500оС; Скорость нагрева 0.01-100оС/мин; чувствительность 0.2 мкг, 0.06 мкВ; атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум (до 2 Торр), cкорость потока газа 0 - 1000 мл/мин

Сублиматор Labconco Freezone 18 Сублиматор Labconco Freezone 18
Лаборатория криохимических технологий наноматериалов Криохимический синтез веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

 Объем камеры 0,3 м3, остаточное давление 3-5 Па, интервал температур -50-95 oС. Коллектор из нержавеющей стали с тефлоновым покрытием объёмом 18 л. Скорость удаления воды 10л/сутки.

Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500 Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование элементного состава материалов. Все элементы кроме H, N, O и 8а группы. Координатный детектор. Точность <5%.

Дозатор для исследования твердых образцов методом атомно-эмиссионной спектроскопии. мощность лазера 18 МВт

КР-спектрометр EQUINOX 55 в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния FRA 106/S
Лаборатория молекулярной спектроскопии Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов (в т.ч. наноматериалов).

Длина волны возб. 1.06 мкм, 400 мВт Nd:YAG

ИК-Фурье спектрометр Equinox-55 с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S ИК-Фурье спектрометр Equinox-55 с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S
Лаборатория направленного неорганического синтеза наноматериалов (стр. 3, к. 166) Исследование электронных и колебательных (ИК и КР) спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ.

Диапазон 50 - 25000 см-1, разрешение 0.25 см-1

Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии Исследование люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Вакуумный универсальный пост ВУП-5М
Лаборатория криохимических технологий наноматериалов Напыление различных покрытий и формирование контактов для электрофизических измерений.

Остаточн. давл.: P=10-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 0С


Оборудование 1 - 20 из 83
Начало | Пред. | 1 2 3 4 5 | След. | Конец Все
 
     
     


9