Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford
     
     
 
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford

Технические характеристики:

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с



Назначение: Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)
Производитель:
LEO Carl Zeiss SMT Ltd, Германия
Год выпуска: 2003

К списку оборудования


 
     
     


8