Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e

Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов. Мин. пористость от 5 А.

Назначение: Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов.
Производитель:
Quantachrome instruments, США
Год выпуска: 2005