Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
     
     
 
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e

Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e

Технические характеристики:

Мин. пористость от 5 А.



Назначение: Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов.
Производитель:
Quantachrome instruments, США
Год выпуска: 2005

К списку оборудования


 
     
     


Лаборатории электрохимического наноструктурирования