Фурье ИК-спектрометр RX-1

Технические характеристики:

Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. Диап. 400 - 4000 cм^-1, разрешение 1 см^-1

Назначение: Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур.
Производитель:
PerkinElmer, США