Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства «Интегра»

Технические характеристики:

Максимальный диапазон сканирования 100x100x10 мкм. Уровень шума при сканировании по высоте 0.05 нм, в плоскости - 0.01 нм

Назначение: Исследование морфологии и микроструктуры материалов, в т.ч. наноматериалов
Производитель:
ЗАО «Нанотехнология МДТ», Россия
Год выпуска: 2006