Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H-PRO в комплекте

Технические характеристики:

Поле сканирования 100х100 мкм, высота - 5 мкм, разр. сила выше 1 нм Контактный и полуконтактный режимы работы, токовая и силовая литография.

Назначение: Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов).
Производитель:
ЗАО «Нанотехнология МДТ», Россия
Год выпуска: 2006