Микромир
|
| |
|
|
| |
|
|
| |
Факультет: Физический
Список оборудования:
| Фото |
Наименование |
Лаборатория |
Назначение |
Технические характеристики |
|
Комплекс спектроскопический эллипсометр-профилометр
|
|
|
Спектральный диапазон: 190–2100 нм. Диапазон измеряемых толщин пленок от 0,1 нм до 100 микрон. Система детектирования с фазовой модуляцией и частотой модуляции 50 кГц. Измерение не менее 12 элементов матрицы Мюллера. Измерение деполяризации. Система визуализации образца с возможностью получения цветного изображения образцов в режиме реального времени и расположением камеры в детектирующей головке для оптимизации положения микропятна на образце. Видимое поле системы визуализации образца 4 мм х 3 мм при 70 градусах. Цветная ПСЗ матрица системы визуализации образца размером 752 х 576 пикселей. Двойной монохроматор для УФ и видимого диапазона со спектральным диапазоном 190–1000 нм. Спектральное разрешение 0,3 нм при ширине щели двойного монохроматора для УФ и видимого диапазона 100 микрон, с точностью установки длины волн двойного монохроматора для УФ и видимого диапазона +-0,15 нм, с моторизированными щелями и наличием двух ФЭУ, сопряженных с двойным монохроматором для УФ и видимого диапазона. Монохроматор ближнего ИК-диапазона со спектральным диапазоном 1000–2100 нм, спектральным разрешением 0,8 нм при ширине щели монохроматора ближнего ИК-диапазона 100 микрон, точностью установки длины волны монохроматора ближнего ИК-диапазона +-0,2 нм, моторизованными щелями и InGaAs детектором. Автоматизированный гониометр, управляемый компьютером с диапазоном углов падения 35–90 градусов, точностью установки угла 0,1 градус и наличием автоматической калибровки гониометра. Автоматизированный трехкоординатный столик управляемый компьютером с размерами 200 мм х 200 мм, наличием на автоматизированном столике двух сравнительных образцов для автокалибровки, наличием автоматической регулировки высоты столика с автофокусом с длиной автоматической регулировки высоты столика с автофокусом не менее 40 мм, с наличием вакуумного прижима образца, с наличием автоматического картирования образцов, с наличием моторизованного наклона столика для образца. Автоматическая система выбора микропятна, управляемая компьютером с наличием ахроматических микропятен на зеркалах, числом возможных размеров микропятен 8 и наименьшим размером микропятна 50 мкм х 50 мкм. |
|
Многоугловой анализатор размеров частиц (Photocor Complex)
|
|
|
Позволяет измерять размеры частиц, коэффициенты диффузии и молекулярной массы методами статического и динамического рассеяния света в широком диапазоне углов рассеяния. Размер частиц: от 0,5 нм до 10 мкм (диаметр). Коэффициент диффузии: 10–5 ... 10–10 см2/с Молекулярный вес: 1000 Да ... 20 МДа. Объем образца: от 50 мкл до 20 мл. |
|
Высокоскоростной тепловизор Telops FAST M200
|
|
|
Тип детектора: КРТ охлаждаемый. Спектральный диапазон: 1,5–5,1 мкм. Пространственное разрешение 640 × 512 пиксел. DETECTOR PITCH 15 μm Апертура F/3. FRAME RATE 5 600 Hz @ 136 x 2 MAXIMUM FRAME RATE 760 Hz @ 320 x 256 210 Hz @ 640 x 512 TYPICAL NETD 18 mK Время экспозиции 0,17 мкс to full frame rate LENS MOUNT Bayonet interface |
|
Комплекс для регистрации быстропротекающих процессов, включающий высокоскоростную камеру Evercam HR 2000-128-C
|
|
|
Тип сенсора: цветной. Разрешение сенсора 2560 х 1920 пиксел. Технология сенсора CMOS. Формат сенсора 4/3”. Чувствительность сенсора 20 V/ Lux-s на длине волны 550 нм. Квантовая эффективность сенсора >45% на длине волны 550 нм. Динамический диапазон 8/10 бит Размер пиксела 7.8 мкм. Длительность записи на предельном потоке 12.99 с. Предельная частота кадров: до 87800 к/c. Минимальное время экспозиции 1 мкс с шагом в 1 мкс. Тип затвора Global Shutter. Запись по внешнему источнику сигнала. Максимальное удаление от станции без репитера 100 м. Чувствительность ISO 5000. Гамма-коррекция изображения. Возможность пользовательской калибровки. Охлаждение активное воздушное. |
|
Одночастотный непрерывный лазер c длиной волны 532 нм
|
|
|
Ультрастабильный непрерывный лазерный источник с узкой спектральной шириной и высокой средней мощностью позволяет проводить эксперименты с атомарными и ионизированным газами, формировать оптические ловушки и служить накачкой для мощных фемтосекундных лазеров. Основные характеристики: центральная длина волны: 532.00026 нм; выходная мощность: до 22 Вт; стабильность (12 ч): 0,08%; спектральная чистота: 99.9%; ширина линии (100 мкс): 3.6 кГц; качество пучка M2: 1,035; расходимость пучка: 0.30 мрад. |
|
УФ-Вид спектрофотометр экспертного уровня в комплекте
|
|
|
Tехнология двойного монохроматора в сочетании с голографической решеткой: диапазон длин волн 185–900 нм. Широкий выбор режимов работы: спектральный, фотометрический, кинетический, количественный анализ. Ультранизкий уровень рассеянного излучения ≤0.00002%T. Изменяемая ширина щели 0,1–5,0 нм с шагом 0,1 нм. Приставки для измерения: Двулучевая приставка относительного зеркального отражения. Автоматический двулучевой термостатируемый держатель на 5 кювет. Держатель твердых образцов с регулируемым углом. Двулучевой автоматический пятипозиционный держатель для кювет с длиной оптического пути от 5мм до 50 мм. Двухлучевая интегрирующая сфера 150 мм, работающая в диапазоне 200–850 нм. Дополнительное оборудование: Система скоростной фильтрации проб с многоразовыми фильтрами, имеющими двухстороннее винтовое соединение. |
|
Комплекс оборудования для исследования оптических гребенок
|
|
|
Фотоприемник: InGaAs, диапазон чувствительности 1250–1650 нм, оптическая мощность насыщения 10дБм, диапазон рабочих частот 0,01–18 ГГц Лазер: рабочая длина волны 1550 нм, спектральная ширина линии излучения 3кГц, выходная оптическая мощность 100мВт, поляризация — линейная, выход — волоконный. Осциллограф: полоса пропускания 800 МГц (50 Ом), число каналов 4, частота дискретизации 4Гвыб/с. Оптический анализатор спектра: спектральный диапазон 600-1700 нм, разрешение по длине волны не более 0,02нм, погрешность измерения длины волны 0,02 нм в диапазоне от 1520 до 1620 нм, максимальная входная оптическая мощность 23дБм. |
|
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer
|
|
Исследование люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
|
К списку структурных единиц
| |
| |
|
|
| |
|
|
|
Фотогалерея
|
