|
|
|
|
|
|
|
Факультет: Физический
Список оборудования:
Фото |
Наименование |
Лаборатория |
Назначение |
Технические характеристики |
|
Фурье ИК-спектрометр RX-1
|
|
Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. |
Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. Диап. 400 - 4000 cм-1, разрешение 1 см-1
|
|
Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния
|
|
Исследование структурных свойств, линейно-оптических характеристик, электронных свойств, адкомплексов на поверхности наноструктур. |
Вакуумный, диапазон 40 - 12000 см-1, разрешение 0.5 см-1, приставки абсолютного отражения, отражения с переменным углом, МНПВО
|
|
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer
|
|
Исследование люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
|
К списку структурных единиц
| |
|
|
|
|
|
|