Лаборатория электронной микроскопии и электронно-дифракционных методов анализа наноматериалов
     
     
 


Факультет: Факультет наук о материалах
Ответственный и его телефон: к.х.н. Путляев В.И. (495)9391034

Список оборудования:
Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford
Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII
Исследование микроструктуры и морфологии материалов, в т.ч. наноматериалов, в просвечивающим и сканирующих режимах

ускоряющее напряжение 200 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 0,3 нм


К списку структурных единиц


 
     
     


3