Лаборатория электронной микроскопии и электронно-дифракционных методов анализа наноматериалов



Микромир
     
     
 


Факультет: Факультет наук о материалах

Список оборудования:
Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford
 Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)

Растровый электронный микроскоп LeoSupra 50 VP 

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Комплект переоснащения имеющегося растрового электронного микроскопа LEO Supra 50VP 

Безазотный энергодисперсионный спектрометр для рентгеноспектрального микроанализа к растровому электронному микроскопу LeoSupra 50 VP

Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII
 Исследование микроструктуры и морфологии материалов, в т.ч. наноматериалов, в просвечивающим и сканирующих режимах

ускоряющее напряжение 200 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 0,3 нм

К списку структурных единиц


 
     
     


Фотогалерея
Лаборатория фемтосекундной нанофотоники

Все фото...
А знаете ли Вы
Что такое метод электронного парамагнитного резонанса?
Наш адрес: 119991, ГСП-1, Москва, Ленинские горы, дом 1, строение 35
© Центр коллективного пользования МГУ им. М.В. Ломоносова, 2009
Создание сайта: Матадор, 2009