Осветитель: исследование фотоиндуцированных процессов с участием дефектов в полупроводни-ковых структурах, в т.ч. наноструктурах. 

Источник питания: обеспечение бесперебойной работы ЭПР-спектрометра после прекращения подачи электроэнергии в течение 40 мин, фильтр защиты от высокочастотных помех.