Лаборатория спектроскопических методов анализа
     
     
 


Факультет: Факультет наук о материалах
Ответственный и его телефон: к.х.н. А.А.Елисеев (495)9395248

Список оборудования:
Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One
Исследование оптических свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в инфракрасной области спектра Оптика KBr.

Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см-1. Разрешение 0,5 см-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1

УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35 УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/

Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500 Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500
Исследование элементного состава материалов. Все элементы кроме H, N, O и 8а группы. Координатный детектор. Точность <5%.

Дозатор для исследования твердых образцов методом атомно-эмиссионной спектроскопии. мощность лазера 18 МВт

Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia. Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia.
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов методом рамановской спектроскопии.

Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).


К списку структурных единиц


 
     
     


Лаборатория электронной микроскопии