| |
|
|
| |
|
|
| |
Факультет: Факультет наук о материалах
Список оборудования:
| Фото |
Наименование |
Лаборатория |
Назначение |
Технические характеристики |
|
ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One
|
|
Исследование оптических свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в инфракрасной области спектра Оптика KBr. |
Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см-1. Разрешение 0,5 см-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1
|
|
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
|
|
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/
|
|
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками
|
|
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
|
|
Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500
|
|
Исследование элементного состава материалов. Все элементы кроме H, N, O и 8а группы. Координатный детектор. Точность <5%. |
Дозатор для исследования твердых образцов методом атомно-эмиссионной спектроскопии. мощность лазера 18 МВт
|
|
Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia.
|
|
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов методом рамановской спектроскопии. |
Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).
|
К списку структурных единиц
| |
| |
|
|
| |
|
|
