|
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
|
|
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/
|
|
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками
|
|
Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов). |
Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
|
|
Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer Lambda 950 с оптической скамьей
|
|
Исследование абсорбционных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в УФ/Вид./БлИК-области спектра |
Спектральный диапазон 175 nm - 3300 нм. Разрешение - не менее 0,05 - 5,00 нм с шагом 0,01 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,20 - 20,00 нм с шагом 0,04 нм (в БлИК-диапазоне). Точность установки длины волны - не хуже 0,08 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,3 (в БлИК-диапазоне). Воспроизводимость установки длины волны - не хуже 0,02 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,08 (в БлИК-диапазоне). Фотометрический диапазон - не менее 8А. Фотометрическая точность - не хуже 0,0006А (при 1А) и 0,0003А (при 0,5А). Фотометрическая воспроизводимость - не хуже 0,00016А (при 1А) и 0,00008А (при 0,5А). Фотометрическая линейность (щель 2 мм, время интегрирования - 1 мин) - не хуже 0,006А (при 1А) и 0,020А (при 3А). Фотометрический шум - не более 0,00010А (при 0А, 190 нм), 0,00005А нм (при 0А, 500 нм), 0,00004А (при 0А, 1500 нм), 0,00500А (при 6А, 500 нм).
|
|
Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia.
|
|
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов методом рамановской спектроскопии. |
Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).
Комплект лазеров и дополнительных комплектующих для имеющегося Рамановского спектрометра Renishaw в комплексе Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex
|
