| |
|
|
| |
|
|
| |
Факультет: Факультет наук о материалах
Список оборудования:
| Фото |
Наименование |
Лаборатория |
Назначение |
Технические характеристики |
|
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
|
|
Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов. |
Мин. пористость от 5 А.
|
|
Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем
|
|
Исследование микроструктуры материалов при температурах до 1500 С |
Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры
|
|
Система для характеризации наночастиц Malvern Zetasizer Nano ZS
|
|
Построение распределения частиц по размерам для коллоидных растворов и суспензий св интервале от 0,6 нм до 6 мкм. |
Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х103 до 2х107Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.
|
|
Лазерный анализатор частиц FRITSCH Analyzеtte 22
|
|
Исследование распределения частиц по размерам: измеряемый размер частиц порошка 0,16 - 1160 мкм; |
гелий-неоновый лазер 632 нм, мощность 5мВт; мультиэлементный детектор с 31 каналом
|
К списку структурных единиц
| |
| |
|
|
| |
|
|
