Лаборатория молекулярной спектроскопии
     
     
 


Факультет: Физический

Список оборудования:
Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
КР-спектрометр EQUINOX 55 в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния FRA 106/S
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов (в т.ч. наноматериалов).

Длина волны возб. 1.06 мкм, 400 мВт Nd:YAG

Пикосекундный спектрофлуориметр Becker-Нickl в комплекте Пикосекундный спектрофлуориметр Becker-Нickl в комплекте
Исследование оптических свойств материалов (в т.ч. наноматериалов) в видимом диапазоне с временным разрешением.

Лазеры с длиной волны 405 нм (50 пс) и 680 нм (50 пс). Система счета фотонов.

Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H-PRO в комплекте Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H-PRO в комплекте
Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов).

Поле сканирования 100х100 мкм, высота - 5 мкм, разр. сила выше 1 нм Контактный и полуконтактный режимы работы, токовая и силовая литография.


К списку структурных единиц


 
     
     


8