Фотометрический диапазон отображения от -8 А до 8А

Фотометрический диапазон измерения от -3 А до 3 А

Точность длины волны - лучше, чем ±0,3 нм

Воспроизводимость длины волны - лучше чем ±0,1 нм

Фотометрическая точность ±0,003 А, при А=1

Фотометрическая воспроизводимость ±0,0003 А, при А=1

ICS-оптика, общее увеличение 12,5-3200х

Методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК и С-ДИК, поляризация, люминесценция
Системы увеличения изображения: система «Оптовар» 1,6х и 2х
Объективы Эпи-План Неофлюар от 1,25х до 100х
Окуляры: 10х/25; 16х/16

Методы исследования: светлое и темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, дифференциально - интерференционный контраст, люминесценция Объективы: Ахроплан , План-Неофлюар, План-Апохромат, Флюар (1,25х; 2,5х; 4х; 10х; 20х; 40х; 40хМИ; 63х; 63хМИ; 100хМИ)

Длины волн возбуждения 488 и 633 нм. Возможность работы с одиночными пробирками и с каруселью (до 32 образцов). Возможность одновременной регистрации до 5 флуорофоров и двух параметров светорассеяния. Измерения на объектах размером от 0,5 до 40 мкм Чувствительность каналов регистрации флуоресценции: от 600 молекул флуоресцеина на 1 объект; от 300 молекул фикоэритрина на 1 объект. Максимальная скорость считывания 3300 событий/сек

Пиковая скорость обработки данных более 70 гигафлопа. Емкость системы хранения информации более 5 терабайт.

Оборудование для модернизации серверной и сетевой инфраструктуры ФНМ

Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х10³ до 2х10⁷Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.

Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).

Комплект лазеров и дополнительных комплектующих для имеющегося Рамановского спектрометра Renishaw в комплексе Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex

макс. внешнее магнитное поле до 7 Т, температурный интервал 1-350 К

интервал температур 18-300К, напряженность поля 1-100 Э, частота (AC) магнитного поля 27 Гц

Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов, в т.ч. наноматериалов, Определение количественного состава по всем элементам, кроме H,C,N,O,F,Cl,) за один аналитический прогон с пределами обнаружения на уровне 0.1-5 ppt (0.1-5 10^-6 мг/л). Кратковременная стабильность системы (RSD) при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течение 1 часа не более 2%. Долговременная стабильность системы (RSD при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течении 4 часов не более 3%.

https://istina.msu.ru/equipment/card/537121965/

• Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC
• Комплексная система хранения и обработки экспериментальных данных с системой коммутации
• Комплект дополнительного оборудования и запасных частей для рентгеновского дифрактометра с вращающимся анодом

Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01^о; интервал 2Θ 1-120 ^о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 ^оС до 1500 ^оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах.

Напряженность магнитного поля: 9,4 Тесла 

Рабочая частота на ¹Н — 400 МГц. Датчик — широкополосный, инверсный с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм ампулы Диапазон частот от ¹⁰⁹Ag до¹Н (18МГц ÷ 400МГц) — ¹H, ¹³С, ¹⁵N, ¹⁹F, ²⁹Si, ³¹P, ⁷⁷Se, ¹⁹⁵Pt, и др. 

Температурная приставка (+25°С ÷ +100°С).

Конденсор 2 л, диапазон температуры -50 +60 С. Контроллер Wizard 2.0

Жидкостной сцинтилляционный счет, измерение α- и β - радиоактивности жид-ких и твердых веществ. Эффективность регистрации; ³Н: 60%; ¹⁴С: 95%. Воспроизво-димость: 1%. Максимальная скорость счета: ³Н - 107 dpm; ¹⁴С - 6-106 dpm; ³²P - 2.8-106 dpm.

Разрешение в высоком вакууме 3 нм, при низком вакууме 4.5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 10В. Увеличение в диапазоне 5 - 1 000 000х

Чувствительность метода 1-3%. Диап. 10 -0.00001 нм.

Диапазон измерения проводимости: 10^-9 - 10^-7 м²/В×с; диапазон измерения размера 0,6 нм - 6 мкм; температурный контроль: 6 - 100ºС, ± 0,1ºС; угол рассеяния: 15 и 90º; объем пробы: 1-3 мл.

Скорость газового потока через колонку - 1,0 - 2,0 мл/мин, Интервал температур 0-350°С. Макс.внутренний диаметр колонки 0,25-0,53 см Чувствительность до 10^-14 г

Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10-5 ед.опт.плотности