Мин. пористость от 5 А.

 Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры

Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см^-1. Разрешение 0,5 см^-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1

в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/

Растровый электронный микроскоп LeoSupra 50 VP 

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии K_α(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Комплект переоснащения имеющегося растрового электронного микроскопа LEO Supra 50VP 

Безазотный энергодисперсионный спектрометр для рентгеноспектрального микроанализа к растровому электронному микроскопу LeoSupra 50 VP

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Диапазон температур 20-1500^оС; Скорость нагрева 0.01-100^оС/мин; чувствительность 0.2 мкг, 0.06 мкВ; атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум (до 2 Торр), cкорость потока газа 0 - 1000 мл/мин

Пиковая скорость обработки данных более 70 гигафлопа. Емкость системы хранения информации более 5 терабайт.

Оборудование для модернизации серверной и сетевой инфраструктуры ФНМ

Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х10³ до 2х10⁷Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.

Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).

Комплект лазеров и дополнительных комплектующих для имеющегося Рамановского спектрометра Renishaw в комплексе Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex

макс. внешнее магнитное поле до 7 Т, температурный интервал 1-350 К

Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов, в т.ч. наноматериалов, Определение количественного состава по всем элементам, кроме H,C,N,O,F,Cl,) за один аналитический прогон с пределами обнаружения на уровне 0.1-5 ppt (0.1-5 10^-6 мг/л). Кратковременная стабильность системы (RSD) при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течение 1 часа не более 2%. Долговременная стабильность системы (RSD при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течении 4 часов не более 3%.

https://istina.msu.ru/equipment/card/537121965/

• Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC
• Комплексная система хранения и обработки экспериментальных данных с системой коммутации
• Комплект дополнительного оборудования и запасных частей для рентгеновского дифрактометра с вращающимся анодом

Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01^о; интервал 2Θ 1-120 ^о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 ^оС до 1500 ^оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах.