Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10-5 ед.опт.плотности

Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. масс-разрешение 0.01 ед.массы УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10^-5 ед. опт. плотности.

Исследование ИК спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ. Диапазон 400 - 7000 см^-1, разрешение 1 см^-1

Определение механизмов протекания каталитических процессов (регистрация спектров при различных температурах). Напряженность магнитного поля до 15000 Гаусс, диапазоны: 3 см (9.5 ГГц) и 8 мм (35 ГГц). Диаметр полюсов магнита 25 см, мощность 12 кВт. Напряженность магнитного поля до 15000 Гаусс. Два микроволновых диапазона: 3 см (9.5 ГГц) и 8 мм (35 ГГц). Система регулирования температуры от 4 до 300 К

Температура источника 100-250°С
Чувствительность в режиме регистрации отдельных ионов до 10^-15г. Время регистрации отдельного иона от 10 до 999 мс. Максимальная скорость сканирования 5200 а.е.м

Диапазон температур от -120 и до 1650°С.

Возможность проведения анализа в вакууме, динамическом или статистическом режиме, в диапазоне температур до 1100С. Диапазон измерения пор от 3,5 до 5000 Å, минимальный определяемый объем пор 0,0001 сс/g.

Прибор предназначен для анализа газовой фазы, имеет капиллярную систему ввода. Диапазон измеряемых масс от 1 до 300 а.е.м. Температура нагрева адаптера, капилляра и впускной системы квадрупольного масс-спектрометра 300°C.

Скорость сканирования - 1 мВ/c - 10 мВ/c, разрешение - 20 мс

Температурный диапазон -150 ... +600°C (зависит от используемой системы охлаждения) чувствительность: 3.6 ... 4.0 мкВ/мВт постоянная времени сенсора: ca. 2.5 с скорость нагревания: 0.001 ... 100 K/мин.

Электромагнитные компенсационные микровесы с верхней загрузкой с разрешением в области 1 мкг. Измерение проб с навеской до 1 г. Температурный диапазон -20 … 1000^оС, скорости нагревания: 0,001 … 100 К/мин

Изучение процесса термолиза металлоорганических соединений, анализ твердофазных превращений. Термический анализ материалов. диапазон -180 ... +700°C чувствительность: 3 ... 3,5 мкВ/мВт постоянная времени сенсора: 0,6 с диапазон скорости нагревания: 0.01 ... 99,99 K/ мин

Азотный лазер с частотой 50Hz, источник ионов с бесcеточными ускоряющими электродами, импульсная экстракция ионов (PIE™); бессеточный рефлектрон; селектор материнских ионов высокого разрешения

Диапазон масс 50-2200 (разрешение 0,1 ед. Массы) 2200-4000 (разрешение 4 ед массы).

Диапазон температур: T=4 K - 450 K. Точность определения температуры: 1 К. Диапазон частот при измерениях на перемен-ном сигнале: f=5 Гц - 13 МГц. Точность регулировки частоты переменного сигнала: 1 Гц. Диапазон подаваемых напряжений: U=0 В - 500 В. Диапазон измеряемых токов на постоянном сигнале: I=10 фА - 20 мА. Диапазон измерения сопротивления на переменном сигнале: R=1 Ом - 1 МОм. Диапазон измерения емкости: С=1пФ - 100мФ. Диапазон измерения индуктивности: L=100нГн - 1000Гн.

Вакуум до 10^-5 Торр. Криостаты: минимальная темп.: Т_min=4.2 К Время охл. до Т_min: T=65 мин. Точн. контроля 0.001 К

Вытяжные шкафы серии C+ шириной 1500 мм и 1200 мм. Рабочая камера вентилируется через систему двойной стены - так называемые щели по всей ширине вытяжного шкафа, расположенные в нижней и верхней части рабочей камеры. Экран вытяжного шкафа из безопасных стекол.

Скорость откачки 210 л/с, разрешение 0,1 нм, скорость напыления - до 1000 нм/с

Лазеры с длиной волны 405 нм (50 пс) и 680 нм (50 пс). Система счета фотонов.

Остаточное рабочее давление в камере микроскопа - не более 1*10^-10Торр, пьезоэлектрический манипулятор точных перемещений - триподного типа; максимальный диапазон перемещений 2.3мкм х 2.3мкм х 1.2мкм; возможность замены зондирующего острия и образцов in situ; возможность прямого и косвенного нагрева образца; высокоэффективная виброизоляционная система; электронный блок управления Scala SPM с программным обеспечением

Поле сканирования 100х100 мкм, высота - 5 мкм, разр. сила выше 1 нм Контактный и полуконтактный режимы работы, токовая и силовая литография.