Оборудование
     
     
 
Наименование:
Производитель:
Год выпуска с: по:
Технические характеристики:


Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
Мультимодальный планшетный ридер BMG LABTECH POLARstar Omega [1303-44-2022] Мультимодальный планшетный ридер BMG LABTECH POLARstar Omega [1303-44-2022]
Лаборатория био-микроскопии Высокочувствительный мультимодальный планшетный ридер позволяет одновременные измерения на двух длинах волн и измерения поляризации флуоресценции. Тип измерения: Интенсивность флуоресценции (FI) Резонансный перенос энергии (FRET) Флуоресценция с разрешением по времени (TRF) Резонансный перенос энергии флуоресценции с разрешением по времени (TR-FRET) Поляризация флуоресценции (FP) Люминесценция (быстрая и затухающая) (LUM) Резонансный перенос энергии биолюминесценции (BRET) УФ/Вид абсорбция (ABS) Измерение сверху и снизу. Измерение по конечной точке и кинетика. Последовательные измерения на нескольких длинах волн возбуждения или испускания. Логометрические измерения. Сканирование лунок. Детекторы: два ФЭУ с низким шумом и диод/линейка (CDD) для измерения оптической плотности. Возможность работы в спектральном диапазоне для измерения FRET, TRF, LUM в диапазоне от 240 до 740 нм. Спектральный диапазон для измерения ABS в диапазоне от 220 до 1000 нм.
Многофункциональный сканер флюоресцентного и радиоактивного сигнала Amersham Typhoon RGB Многофункциональный сканер флюоресцентного и радиоактивного сигнала Amersham Typhoon RGB
Лаборатория био-микроскопии Цифровая детекция изображений гелей и блотов для количественного определения белков, нуклеиновых кислот и других биомолекул, меченных флуоресцентными красителями красного, синего, зеленого, околоинфракрасного спектра. Источники возбуждения- лазеры LD488 (синий), SHG532 (зеленый), LD635 (красный) Оптическая схема - конфокальная Флуоресцентные фильтры системы детекции сигнала в комплектации прибора 390 нм – фосфоимиджинг, 515-535 нм, 560-580 нм, 655-685 нм.
Микротомограф Bruker Skyscan 1272 Микротомограф Bruker Skyscan 1272
Лаборатория био-микроскопии Источник рентгеновского излучения: 20-100 кВ,10 Вт, размер пятна <5мкм при 4 Вт. Детектор рентгеновского излучения: 16МП. Размер объекта: диаметр до 75 мм в режиме офсетного сканирования (27 мм при быстром одиночном сканировании). Обнаружение деталей: 0,35 мкм (16МП) при максимальном увеличении. Дополнительные аксессуары: микропозиционный столик, платформа для исследовании при охлаждении/ нагревании. Радиационная безопасность: <1 мкЗв/ч в любой точке на поверхности прибора.
Комплекс оборудования для работ с культурами клеток и создания тканеинженерных конструкций – система гель-документирования ChemiDoc XRS+ Комплекс оборудования для работ с культурами клеток и создания тканеинженерных конструкций – система гель-документирования ChemiDoc XRS+
Лаборатория био-микроскопии ChemiDoc XRS+ − многофункциональная система гель-документирования для работы с широким спектром образцов. Программное обеспечение Image Lab позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран, и быстро получать точные и воспроизводимые результаты. Для фиксации нечетких, расплывчатых и бледных полос в систему ChemiDoc XRS+ встроена система охлаждения. ChemiDoc XRS+ подойдет для экспериментов со множеством различных методов и образцов: Анализ одномерных и двумерных гелей Колориметрический анализ вестерн- и дот-блотов Флуоресценция Детекция хемилюминесценции Детекция нуклеиновых кислот Денситометрия Работа с гелями Stain-Free по безокрасочной технологии Максимальный размер образца –28 x 36 см Максимальный размер изображения – 26 x 35 см Источник света: Источник супер-белого и транс-УФ (302 нм) света Управление источником света: 5 режимов (транс УФ, супер-белый, без света для хемилюминесценции); опционально: экран-преобразователь транс-белого света и экран XcitaBlue™ UV / преобразователь синего цвета Сенсор CCD / ПЗС Охлаждение камеры – до -30°C Оптическое разрешение – 4 мегапикселя Дискретизация – 65536 оттенков серого
Сканирующий электронный микроскоп Neoscope JCM-7000 [1553-44-2020] Сканирующий электронный микроскоп Neoscope JCM-7000 [1553-44-2020]
Лаборатория био-микроскопии JCM-7000 – многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп четвертого поколения, производимый японской компанией JEOL Ltd. Он предназначенный для изучения образцов диаметром до 80 мм и высотой до 50 мм с разрешением порядка нескольких десятков нанометров. Микроскоп обладает богатым функционалом. Он штатно комплектуется детекторами вторичных и отражённых электронов и может работать как в режиме высокого, так и низкого вакуума. Диапазон увеличений прибора составляет от 10 до 100’000 крат в пересчёте на размеры отпечатка 128мм*96мм, а максимальный размер образца – 80мм в диаметре и 50мм высотой. Кроме того, данный микроскоп можно оснашен энергодисперсионной системой микроанализа. Детально изучить морфологию исследуемого объекта позволяет специальный моторизованный держатель с возможностью наклона и вращения образца. Благодаря всему сказанному выше, JCM-7000 позволяет решать большинство задач по исследованию морфологии и анализу элементного состава различных объектов.
Центрифуга напольная высокоскоростная с охлаждением Avanti JXN-30 Центрифуга напольная высокоскоростная с охлаждением Avanti JXN-30
Лаборатория био-микроскопии Avanti JXN-30 Three-Phase High Performance Centrifuge, 220V, 50 Hz, 12A Артикул B34192 Максимальная скорость 30 000 rpm Максимальное ускорение 110510 g Количество режимов разгона - 11 Количество режимов торможения - 12 Время центрифугирование от 1 мин до 99 часов 59 минут Температурный режим от -20 до +40℃ Роторы: JA-30.50 fixed angel (30 000rpm, 108 860g, 8 пробирок по 50мл, угол наклона пробирки 34°) JLA-16.250 fixed angel (16 000rpm, 38 420g, 6 пробирок по 250мл, угол наклона пробирки 25°) JA-25.15 fixed angel (25 000rpm, 74 200g, 24 пробироки по 15мл, угол наклона пробирки 25°)
Комплекс электрохимического оборудования с потенциостатом/гальваностатом AutoLab PGSTAT302, потенциостатом Solartron 1287 и анализатором частот Solartron 1255B Комплекс электрохимического оборудования с потенциостатом/гальваностатом AutoLab PGSTAT302, потенциостатом Solartron 1287 и анализатором частот Solartron 1255B
лаборатория материаловедения Электрохимическая система потенциостат/гальваностат AutoLab PGSTAT302
Электрохимическая система потенциостат Solartron 1287/ анализатор частот Solartron 1255B
Комплекс спектрометров УФ-Видимой-ИК области Комплекс спектрометров УФ-Видимой-ИК области
Измерение спектров пропускания, отражения и рассеяния в широком диапазоне от ИК до УФ.
ИК-, УФ-, ВИД-, КР- спектрометры

Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer Lambda 950 с оптической скамьей.  
Люминесцентный спектрометр LS-55 Perkin Elmer в комплекте с приставками.
ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One. 
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
Научно-исследовательский комплекс для получения нано- и микрочастиц полимеров c гомогенизатором Emulsiflex-C5 Научно-исследовательский комплекс для получения нано- и микрочастиц полимеров c гомогенизатором Emulsiflex-C5
Лаборатория био-микроскопии Подготовка биологического материала к исследованиям внутриклеточных наноструктур. Диапазон рабочего давления, бар — 35–2070; пропускная способность, мл/ч — 1000–5000; минимальный объём образца, мл — 7; скорость потока зависит от выбранного давления; не требуется электрического питания; тип насоса — одностороннего действия с воздушным приводом; возможность очистки прибора посредством прогона горячей воды, спирта, ацетона или других дезинфицирующих средств; возможность подключения пара для стерилизации in situ; для работы требуется сжатый воздух (магистраль или баллон), бар – 8.
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer
лаборатория оптической характеризации Исследование люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Cканирующий лазерный конфокальный микроскоп Axiovert 200M LSM510 META (Carl Zeiss) Cканирующий лазерный конфокальный микроскоп Axiovert 200M LSM510 META (Carl Zeiss)
Лаборатория био-микроскопии Проведение микроскопических исследований с использованием метода иммунофлуоресценции

Проведение исследований на клетках эукариот и прокариот методом лазерной сканирующей конфокальной микроскопии с трехмерным пространственным, временным и спектральным разрешением. Инвертированный микроскоп Axiovert 200M с конфокальной приставкой LSM510 META Оборудован оптико-электронным модулем: 3 лазерами. Ar-laser (458, 477, 488, 514 nm, 30mW) HeNe-laser, 543 nm, 1 mW. HeNe laser, 633nm, 5mW. Область сканирования от 18 мм в зависимости от объектива. Шаг по оси Z - 25 нм.

Одновременная детекция в 3 каналах. Каждый канал имеет свой пинхол. 32-канальный МЕТА-детектор для быстрого сканирования лямбда-треков. Скорость сканирования от 5 кадров/с при разрешении 512х512 до 77 кадров/с при разрешении 512х32. Мультитайм-серия. 3D-деконволюция. Топография 3D-структур, построенных на основе оптических срезов.

ICS-оптика, общее увеличение 12,5-3200х

Методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК и С-ДИК, поляризация, люминесценция
Системы увеличения изображения: система «Оптовар» 1,6х и 2х
Объективы Эпи-План Неофлюар от 1,25х до 100х
Окуляры: 10х/25; 16х/16

Исследовательский микроскоп Axioplan-2 Imaging c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений Исследовательский микроскоп Axioplan-2 Imaging c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений
Лаборатория био-микроскопии Проведение исследований срезов с разрешением до Х1200

Методы исследования: светлое и темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, дифференциально - интерференционный контраст, люминесценция Объективы: Ахроплан , План-Неофлюар, План-Апохромат, Флюар (1,25х; 2,5х; 4х; 10х; 20х; 40х; 40хМИ; 63х; 63хМИ; 100хМИ)

Комплексная cистема сбора и обработки информации DELL Power Edge Комплексная cистема сбора и обработки информации DELL Power Edge
лаборатория материаловедения Система предназначена для сбора, хранения и обработки информации, поступающей со всех научных приборов.

Пиковая скорость обработки данных более 70 гигафлопа. Емкость системы хранения информации более 5 терабайт.

Оборудование для модернизации серверной и сетевой инфраструктуры ФНМ

Комплекс для исследования размеров частиц: система Malvern Zetasizer Nano ZS и лазерный анализатор частиц FRITSCH Analyzеtte 22 Комплекс для исследования размеров частиц: система Malvern Zetasizer Nano ZS и лазерный анализатор частиц FRITSCH Analyzеtte 22
лаборатория материаловедения Построение распределения частиц по размерам для коллоидных растворов и суспензий св интервале от 0,6 нм до 6 мкм.

Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х103 до 2х107Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.

Комплекс спектрометров: УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35,  УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer 950, Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками, ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One, Perkin-Elmer Lambda 950 Комплекс спектрометров: УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35, УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer 950, Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками, ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One, Perkin-Elmer Lambda 950
лаборатория материаловедения Исследование абсорбционных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в УФ/Вид./БлИК-области спектра


Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex с комплектом лазеров Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex с комплектом лазеров
лаборатория материаловедения Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов методом рамановской спектроскопии.

Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).

Комплект лазеров и дополнительных комплектующих для имеющегося Рамановского спектрометра Renishaw в комплексе Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex

SQUID-магнитометр Cryogenic S750X SQUID-магнитометр Cryogenic S750X
лаборатория материаловедения Исследование комплекса магнитных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов)

макс. внешнее магнитное поле до 7 Т, температурный интервал 1-350 К

Масс-спектрометр Perkin-Elmer ELAN DRC-II Масс-спектрометр Perkin-Elmer ELAN DRC-II
лаборатория материаловедения Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов

Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов, в т.ч. наноматериалов, Определение количественного состава по всем элементам, кроме H,C,N,O,F,Cl,) за один аналитический прогон с пределами обнаружения на уровне 0.1-5 ppt (0.1-5 10-6 мг/л). Кратковременная стабильность системы (RSD) при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течение 1 часа не более 2%. Долговременная стабильность системы (RSD при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течении 4 часов не более 3%.

Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC
лаборатория материаловедения Проведение рентгенофазового и рентгенографического анализа веществ и материалов, в т.ч. наноструктурированных, в т.ч. при повышенных темп. до 1500С.
  • Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC
  • Комплексная система хранения и обработки экспериментальных данных с системой коммутации
  • Комплект дополнительного оборудования и запасных частей для рентгеновского дифрактометра с вращающимся анодом

Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01о; интервал 2Θ 1-120 о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 оС до 1500 оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах.

Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов
Лаборатория электрофизических измерений Электрофизических измерения параметров наноструктур в т.ч. при низких температурах.

Диапазон температур: T=4 K - 450 K. Точность определения температуры: 1 К. Диапазон частот при измерениях на перемен-ном сигнале: f=5 Гц - 13 МГц. Точность регулировки частоты переменного сигнала: 1 Гц. Диапазон подаваемых напряжений: U=0 В - 500 В. Диапазон измеряемых токов на постоянном сигнале: I=10 фА - 20 мА. Диапазон измерения сопротивления на переменном сигнале: R=1 Ом - 1 МОм. Диапазон измерения емкости: С=1пФ - 100мФ. Диапазон измерения индуктивности: L=100нГн - 1000Гн.

Вакуум до 10-5 Торр. Криостаты: минимальная темп.: Тmin=4.2 К Время охл. до Тmin: T=65 мин. Точн. контроля 0.001 К


Оборудование 61 - 80 из 83
Начало | Пред. | 1 2 3 4 5 | След. | Конец | Все
 
     
     


Лаборатория электронной микроскопии