Высокочувствительный мультимодальный планшетный ридер позволяет одновременные измерения на двух длинах волн и измерения поляризации флуоресценции. Тип измерения: Интенсивность флуоресценции (FI) Резонансный перенос энергии (FRET) Флуоресценция с разрешением по времени (TRF) Резонансный перенос энергии флуоресценции с разрешением по времени (TR-FRET) Поляризация флуоресценции (FP) Люминесценция (быстрая и затухающая) (LUM) Резонансный перенос энергии биолюминесценции (BRET) УФ/Вид абсорбция (ABS) Измерение сверху и снизу. Измерение по конечной точке и кинетика. Последовательные измерения на нескольких длинах волн возбуждения или испускания. Логометрические измерения. Сканирование лунок. Детекторы: два ФЭУ с низким шумом и диод/линейка (CDD) для измерения оптической плотности. Возможность работы в спектральном диапазоне для измерения FRET, TRF, LUM в диапазоне от 240 до 740 нм. Спектральный диапазон для измерения ABS в диапазоне от 220 до 1000 нм.
Источник рентгеновского излучения: 20-100 кВ,10 Вт, размер пятна <5мкм при 4 Вт. Детектор рентгеновского излучения: 16МП. Размер объекта: диаметр до 75 мм в режиме офсетного сканирования (27 мм при быстром одиночном сканировании). Обнаружение деталей: 0,35 мкм (16МП) при максимальном увеличении. Дополнительные аксессуары: микропозиционный столик, платформа для исследовании при охлаждении/ нагревании. Радиационная безопасность: <1 мкЗв/ч в любой точке на поверхности прибора.
ChemiDoc XRS+ − многофункциональная система гель-документирования для работы с широким спектром образцов. Программное обеспечение Image Lab позволяет решать основные задачи анализа и документирования гелей и мембран, и быстро получать точные и воспроизводимые результаты. Для фиксации нечетких, расплывчатых и бледных полос в систему ChemiDoc XRS+ встроена система охлаждения. ChemiDoc XRS+ подойдет для экспериментов со множеством различных методов и образцов: Анализ одномерных и двумерных гелей Колориметрический анализ вестерн- и дот-блотов Флуоресценция Детекция хемилюминесценции Детекция нуклеиновых кислот Денситометрия Работа с гелями Stain-Free по безокрасочной технологии Максимальный размер образца –28 x 36 см Максимальный размер изображения – 26 x 35 см Источник света: Источник супер-белого и транс-УФ (302 нм) света Управление источником света: 5 режимов (транс УФ, супер-белый, без света для хемилюминесценции); опционально: экран-преобразователь транс-белого света и экран XcitaBlue™ UV / преобразователь синего цвета Сенсор CCD / ПЗС Охлаждение камеры – до -30°C Оптическое разрешение – 4 мегапикселя Дискретизация – 65536 оттенков серого
JCM-7000 – многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп четвертого поколения, производимый японской компанией JEOL Ltd. Он предназначенный для изучения образцов диаметром до 80 мм и высотой до 50 мм с разрешением порядка нескольких десятков нанометров. Микроскоп обладает богатым функционалом. Он штатно комплектуется детекторами вторичных и отражённых электронов и может работать как в режиме высокого, так и низкого вакуума. Диапазон увеличений прибора составляет от 10 до 100’000 крат в пересчёте на размеры отпечатка 128мм*96мм, а максимальный размер образца – 80мм в диаметре и 50мм высотой. Кроме того, данный микроскоп можно оснашен энергодисперсионной системой микроанализа. Детально изучить морфологию исследуемого объекта позволяет специальный моторизованный держатель с возможностью наклона и вращения образца. Благодаря всему сказанному выше, JCM-7000 позволяет решать большинство задач по исследованию морфологии и анализу элементного состава различных объектов.
Подготовка биологического материала к исследованиям внутриклеточных наноструктур.
Диапазон рабочего давления, бар — 35–2070; пропускная способность, мл/ч — 1000–5000; минимальный объём образца, мл — 7; скорость потока зависит от выбранного давления; не требуется электрического питания; тип насоса — одностороннего действия с воздушным приводом; возможность очистки прибора посредством прогона горячей воды, спирта, ацетона или других дезинфицирующих средств; возможность подключения пара для стерилизации in situ; для работы требуется сжатый воздух (магистраль или баллон), бар – 8.
Исследование люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).
Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
Проведение микроскопических исследований с использованием метода иммунофлуоресценции
Проведение исследований на клетках эукариот и прокариот методом лазерной сканирующей конфокальной микроскопии с трехмерным пространственным, временным и спектральным разрешением. Инвертированный микроскоп Axiovert 200M с конфокальной приставкой LSM510 META Оборудован оптико-электронным модулем: 3 лазерами. Ar-laser (458, 477, 488, 514 nm, 30mW) HeNe-laser, 543 nm, 1 mW. HeNe laser, 633nm, 5mW. Область сканирования от 18 мм в зависимости от объектива. Шаг по оси Z - 25 нм.
Одновременная детекция в 3 каналах. Каждый канал имеет свой пинхол. 32-канальный МЕТА-детектор для быстрого сканирования лямбда-треков. Скорость сканирования от 5 кадров/с при разрешении 512х512 до 77 кадров/с при разрешении 512х32. Мультитайм-серия. 3D-деконволюция. Топография 3D-структур, построенных на основе оптических срезов.
ICS-оптика, общее увеличение 12,5-3200х
Методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК и С-ДИК, поляризация, люминесценция
Системы увеличения изображения: система «Оптовар» 1,6х и 2х
Объективы Эпи-План Неофлюар от 1,25х до 100х
Окуляры: 10х/25; 16х/16
Построение распределения частиц по размерам для коллоидных растворов и суспензий св интервале от 0,6 нм до 6 мкм.
Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х103 до 2х107Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.
Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов методом рамановской спектроскопии.
Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).
Комплект лазеров и дополнительных комплектующих для имеющегося Рамановского спектрометра Renishaw в комплексе Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex
Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов
Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов, в т.ч. наноматериалов, Определение количественного состава по всем элементам, кроме H,C,N,O,F,Cl,) за один аналитический прогон с пределами обнаружения на уровне 0.1-5 ppt (0.1-5 10-6 мг/л). Кратковременная стабильность системы (RSD) при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течение 1 часа не более 2%. Долговременная стабильность системы (RSD при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течении 4 часов не более 3%.
Проведение рентгенофазового и рентгенографического анализа веществ и материалов, в т.ч. наноструктурированных, в т.ч. при повышенных темп. до 1500С.
Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC
Комплексная система хранения и обработки экспериментальных данных с системой коммутации
Комплект дополнительного оборудования и запасных частей для рентгеновского дифрактометра с вращающимся анодом
Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01о; интервал 2Θ 1-120 о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 оС до 1500 оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах.