Оборудование
     
     
 
Наименование:
Производитель:
Год выпуска с: по:
Технические характеристики:


Фото Наименование Лаборатория Назначение Технические характеристики
Фурье ИК-спектрометр RX-1 Фурье ИК-спектрометр RX-1
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур.

Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. Диап. 400 - 4000 cм-1, разрешение 1 см-1

Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии Исследование структурных свойств, линейно-оптических характеристик, электронных свойств, адкомплексов на поверхности наноструктур.

Вакуумный, диапазон 40 - 12000 см-1, разрешение 0.5 см-1, приставки абсолютного отражения, отражения с переменным углом, МНПВО

Микрораман LabRAM HR Visible Микрораман LabRAM HR Visible
Лаборатория спектроскопии комбинационного рассеяния Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов. Используемые лазеры возбуждения: 633 и 488 нм, решетка: 1800 штр/мм, диапазон от -5000 до 5000 обр. см, картографирование
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12 Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12
Лаборатория ЭПР спектроскопии Исследование структурных дефектов в наноматериалах. Спектрометр: рабочая частота 9,6 ГГц, Hmax =1 Тл. Чувствительность 5*1014 спин/Тл. 

Осветитель: исследование фотоиндуцированных процессов с участием дефектов в полупроводни-ковых структурах, в т.ч. наноструктурах. 

Источник питания: обеспечение бесперебойной работы ЭПР-спектрометра после прекращения подачи электроэнергии в течение 40 мин, фильтр защиты от высокочастотных помех.
Вакуумный универсальный пост ВУП-5М Вакуумный универсальный пост ВУП-5М
Лаборатория технологии напыления тонких пленок и многослойных наноструктур Напыление различных покрытий и формирование контактов для электрофизических измерений.

Остаточн. давл.: P=10-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 0С

Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера
Лаборатория фемтосекундной нанофотоники Исследование оптических и нелинейно-оптических свойств материалов, в том числе наноматериалов. Фемтосекундный лазерный комплекс: Длительность импульса на выходе не более 100 фс. Энергия лазерного импульса до 4 мДж (1,25 мкм), до 400 мкДж (в диапазоне 0,9 - 1,5 мкм). Плавная перестройка длины волны в диапазоне от 0.9 до 10 мкм. 

Пикосекундный лазер: На основной длине волны 1,064 мкм длительность импульса около 35 пс, энергия до 50 мДж. На длине волны второй гармоники 0,532 мкм энергия импульса до 25 мДж. 

Система регистрации: в т.ч. для исследования оптических сигналов в видимом и инфракрасном диапазонах (0,6 - 1,7 мкм) и их кинетик, временное разрешение 3 нс.
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e
Лаборатория реологии наноматериалов Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов.

Мин. пористость от 5 А.

Сканирующий зондовый комплекс INTEGRA AURA с регулируемым внешним магнитным полем Сканирующий зондовый комплекс INTEGRA AURA с регулируемым внешним магнитным полем
Лаборатория зондовых методов в нанотехнологии и нанометрологии Изучение рельефа и физических свойств поверхности с использованием современных методов зондовой микроскопии

вакуум до 10-2 Торр, нагрев образца до 150 °С с точностью до 0.05 °С ,с регулируемым внешним магнитным полем до 0.2 T

Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем
Лаборатория реологии наноматериалов Исследование микроструктуры материалов при температурах до 1500 С

 Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры

ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование оптических свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в инфракрасной области спектра Оптика KBr.

Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см-1. Разрешение 0,5 см-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1

УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35 УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Supra 50 VP LEO с системой микроанализа INCA Energy+ Oxford
Лаборатория электронной микроскопии и электронно-дифракционных методов анализа наноматериалов Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Комплекс дифференциальнотермичес-кого и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA Комплекс дифференциальнотермичес-кого и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA
Лаборатория термических методов анализа Проведение полного дифференциальнотермического и термогравиметрического анализа веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов)

Диапазон температур 20-1500оС; Скорость нагрева 0.01-100оС/мин; чувствительность 0.2 мкг, 0.06 мкВ; атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум (до 2 Торр), cкорость потока газа 0 - 1000 мл/мин

Сублиматор Labconco Freezone 18 Сублиматор Labconco Freezone 18
Лаборатория криохимических технологий наноматериалов Криохимический синтез веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

 Объем камеры 0,3 м3, остаточное давление 3-5 Па, интервал температур -50-95 oС. Коллектор из нержавеющей стали с тефлоновым покрытием объёмом 18 л. Скорость удаления воды 10л/сутки.

Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500 Атомно-эмиссионный спектрометр Optima ICP 5300DVK с лазерно-абляционным дозатором SOLIS LSX-500
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование элементного состава материалов. Все элементы кроме H, N, O и 8а группы. Координатный детектор. Точность <5%.

Дозатор для исследования твердых образцов методом атомно-эмиссионной спектроскопии. мощность лазера 18 МВт

КР-спектрометр EQUINOX 55 в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния FRA 106/S
Лаборатория молекулярной спектроскопии Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов (в т.ч. наноматериалов).

Длина волны возб. 1.06 мкм, 400 мВт Nd:YAG

ИК-Фурье спектрометр Equinox-55 с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S ИК-Фурье спектрометр Equinox-55 с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S
Лаборатория направленного неорганического синтеза наноматериалов (стр. 3, к. 166) Исследование электронных и колебательных (ИК и КР) спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ.

Диапазон 50 - 25000 см-1, разрешение 0.25 см-1

Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer
Лаборатория инфракрасной фурье-спектроскопии Исследование люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Вакуумный универсальный пост ВУП-5М
Лаборатория криохимических технологий наноматериалов Напыление различных покрытий и формирование контактов для электрофизических измерений.

Остаточн. давл.: P=10-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 0С

Автоматический гидравлический пресс для горячей запрессовки SIMPLIMET 1000 Автоматический гидравлический пресс для горячей запрессовки SIMPLIMET 1000
Лаборатория физико-химического анализа наносистем (стр. 3, к. 349)
Планетарная мономельница “Пульверизетте 6” Планетарная мономельница “Пульверизетте 6”
Лаборатория физико-химического анализа наносистем (стр. 3, к. 349)
Газовый хроматограф «Кристалл 2000» Газовый хроматограф «Кристалл 2000»
Лаборатория фотохромных наноматериалов (стр. 3, к.к. 212, 307, 310)
Спектрофлуориметр «Флюорат-02-панорама»
Лаборатория фотохромных наноматериалов (стр. 3, к.к. 212, 307, 310)
Ультрамикротом Ultracut-UC6 Ультрамикротом Ultracut-UC6
Лаборатория электронной микроскопии
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM-510 Meta Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM-510 Meta
Лаборатория конфокальной микроскопии Проведение исследований на клетках эукариот и прокариот методом лазерной сканирующей конфокальной микроскопии с трехмерным пространственным, временным и спектральным разрешением Оборудован 3 лазерами.

Ar-laser (458, 477, 488, 514 nm, 30mW) HeNe-laser, 543 nm, 1 mW

HeNe laser, 633nm, 5mW. Область сканирования от 18 мм в зависимости от объектива. Шаг по оси Z - 25 нм.

Одновременная детекция в 3 каналах. Каждый канал имеет свой пинхол. 32-канальный МЕТА-детектор для быстрого сканирования лямбда-треков. Скорость сканирования от 5 кадров/с при разрешении 512х512 до 77 кадров/с при разрешении 512х32. Мультитайм-серия. 3D-деконволюция. Топография 3D-структур, построенных на основе оптических срезов.

Ультрамикротом Ultracut-R Ультрамикротом Ultracut-R
Лаборатория электронной микроскопии Получение ультратонких срезов биологических и полимерных материалов с помощью прецизионных алмазных ножей.

Толщина срезов от 1- 4 мкм (полутонкие) и 30 -100 нм (ультратонкие).

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6380LA Сканирующий электронный микроскоп JSM-6380LA
Лаборатория электронной микроскопии Рентгеноспектральный анализатор

Ускоряющее напряжение до 30 кВ. Разрешающая способность 3нм в режиме регистрации вторичных электронов. Режим рег. обратнорассеянных электронов (топография, композиция и с оттенением). Режим низкого вакуума для влажных и склонных к статике и образцов. Встроенный рентгеноспектральный анализатор JED-2300: диапазон элементов от бора до урана, анализ в точке, профиль по линии, картирование по площади.

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1011 Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1011
Лаборатория электронной микроскопии Исследование ультра и наноструктуры биологических и небиологических материалов

Ускоряющее напряжение до 100 кВ, разрешающая способность 0,3нм, увеличение до 600 тысяч крат. Фиксация ТЭМ-изображений цифровой камерой бокового расположениея Gatan Erlangshen ES500W с автоматической коррекцией контраста. Программа управления фотокамерой и обработки изображений Digatal Micrograph v.3 (Gatan)

Спектрофотометр Specord 50 PC Спектрофотометр Specord 50 PC
Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии Проведение спектроскопических исследований биологических объектов. Диапазон длин волн 190 - 1100 нм

Фотометрический диапазон отображения от -8 А до 8А

Фотометрический диапазон измерения от -3 А до 3 А

Точность длины волны - лучше, чем ±0,3 нм

Воспроизводимость длины волны - лучше чем ±0,1 нм

Фотометрическая точность ±0,003 А, при А=1

Фотометрическая воспроизводимость ±0,0003 А, при А=1

Микроскоп флуоресцентный инвертированный Axiovert 200M c цифровой камерой Микроскоп флуоресцентный инвертированный Axiovert 200M c цифровой камерой
Лаборатория конфокальной микроскопии Проведение микроскопических исследований с использованием метода иммунофлуоресценции

ICS-оптика, общее увеличение 12,5-3200х

Методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК и С-ДИК, поляризация, люминесценция
Системы увеличения изображения: система «Оптовар» 1,6х и 2х
Объективы Эпи-План Неофлюар от 1,25х до 100х
Окуляры: 10х/25; 16х/16

Исследовательский микроскоп Axioplan-2 Imaging c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений Исследовательский микроскоп Axioplan-2 Imaging c цифровой фотокамерой и системой обработки изображений
Лаборатория электронной микроскопии Проведение исследований срезов с разрешением до Х1200

Методы исследования: светлое и темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, дифференциально - интерференционный контраст, люминесценция Объективы: Ахроплан , План-Неофлюар, План-Апохромат, Флюар (1,25х; 2,5х; 4х; 10х; 20х; 40х; 40хМИ; 63х; 63хМИ; 100хМИ)

Проточный цитометр FC500 Проточный цитометр FC500
Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии Проведение исследований наноматериалов для биомедицины и биотехнологии на суспензиях клеток эукариот и прокариот методом флуоресцентной цитометрии.

Длины волн возбуждения 488 и 633 нм. Возможность работы с одиночными пробирками и с каруселью (до 32 образцов). Возможность одновременной регистрации до 5 флуорофоров и двух параметров светорассеяния. Измерения на объектах размером от 0,5 до 40 мкм Чувствительность каналов регистрации флуоресценции: от 600 молекул флуоресцеина на 1 объект; от 300 молекул фикоэритрина на 1 объект. Максимальная скорость считывания 3300 событий/сек

Электрохимическая система потенциостат/гальваностат AutoLab PGSTAT302
Лаборатория электрохимических методов синтеза наноматериалов Формирование наноструктурированных пленок. Измерение частотной зависимости проводимости нанотрубок. 2х, 3х или 4х электродная ячейка РЭ.

Максимальное выходное напряжение ± 30 В; диапазон потенциала ±10 В. Максимальный ток на выходе (потенциостат/гальваностат) ± 2 А, возможно расширение диапазона до ±20 А при использовании дополнительного модуля. 9 диапазонов тока в интервале (10 нA - 1 А). Заданная погрешность потенциала ±0.2% установки ±2 мВ; Заданное разрешение потенциала - 150 мкВ; Измеряемое разрешение потенциала - 30 мкВ; Скорость развертки потенциала - 250 В/c. Заданная и измеряемая погрешность тока - ± 0.2% тока и ± 0.2% диапазона тока; Заданное разрешение тока - 0.03% диапазона тока; Измеряемое разрешение тока - 0.0003% диапазона тока (в 10нА диапазоне измеряемое разрешение тока - 30 фА). Полоса частот потенциостата - 1 МГц; Время нарастания/спада сигнала потенциостата (шаг 1В) < 250 нс; Вход. импеданс электрометра: > 1 ТОм/< 8 пФ; Ток смещения на входе 25ºC: < 1 пА; 

Полоса частот электрометра: > 4 МГц. Рабочие частоты: 1 МГц - 10 мкГц; Диапазон амплитуд переменного сигнала 0.2 - 350 мВ Разрешение по частоте - 0,003%.

Электрохимическая система потенциостат Solartron 1287/ анализатор частот Solartron 1255B Электрохимическая система потенциостат Solartron 1287/ анализатор частот Solartron 1255B
Лаборатория электрохимических методов синтеза наноматериалов Формирование наноструктурированных пленок. Измерение частотной зависимости проводимости нанотрубок.

2х, 3х или 4х электродная ячейка РЭ. Интервал сопротивлений 0.1Ом - 1MОм; Интервал по току 2A - 200нA; Точность 0.1%±0.05%R; Контрэлектрод: Интервал по напряжению ±15V; макс. ток 2A; Предел ошибки 0.1% ±100µV; Импульсный режим, DC, AC, Импеданс: частотный диапазон 10 мкГц - 1МГц; макс потенциал 46 В; Амплитуда переменного сигнала 1-3000 мВ

Система сбора и обработки информации DELL Power Edge
Лаборатория вычислительных методов в нанотехнологиях (к. 213 лаб. корп. Б) Система предназначена для сбора, хранения и обработки информации, поступающей со всех научных приборов.

Пиковая скорость обработки данных более 70 гигафлопа. Емкость системы хранения информации более 5 терабайт.

Автоматизированная система высокого давления Parr 4592 Автоматизированная система высокого давления Parr 4592
Лаборатория полифункциональных наноматериалов Автоматизированная система высокого давления предназначена для проведения синтезов наноматериалов при высоких давлениях и температурах.

Рабочее давление до 240 атмосфер, рабочая температура до 350 оС. Рабочий объем - 100 мл.

Система формирования планарных структур PixDro LP50 Система формирования планарных структур PixDro LP50
Лаборатория полифункциональных наноматериалов Система формирования планарных микро и наноструктур (в т.ч. мембранных) методом микропечати.

Позволять работать с любыми подложками размером до 210х300 мм, толщиной до 25 мм и весом до 1 кг.

Сухой бокс с контролируемой атмосферой Labconco Protector CA Сухой бокс с контролируемой атмосферой Labconco Protector CA
Лаборатория полифункциональных наноматериалов Бокс с контролем атмосферы в боксе и шлюзовой камере предназначен для синтеза и работы с материалами в условиях заданной газовой атмосферы, влажности и давления кислорода.

Содержание кислорода мене 1 ppm и влаги - менее 5 ppm.

Нанокалориметр Mikromash Nanocalorimeter 1
Лаборатория нанокалориметрии Проведение калориметрического анализа наноматериалов.

Диапазон температур 20-350оС, скорость нагрева до 20 оС/сек, навеска до 10 мг, различные газовые атмосферы.

Газовый хроматограф высокого разрешения с масс-спектроскопическим детектором Perkin-Elmer CLARUS 600 Газовый хроматограф высокого разрешения с масс-спектроскопическим детектором Perkin-Elmer CLARUS 600
Лаборатория хроматографических методов исследования мембран и композитов Исследование каталитических свойств материалов (в т.ч. наноматериалов) и газовой проницаемости мембран.

Предел детектирования - не хуже 510-5 об.доля, % по метану, Чувствительность к Н2, Ar, O2, N2, Kr, Xe, СН4, СО, СО2 - не хуже 1 ppb. Парофазная приставка.

Сублиматор USIFROID SMH-15 Сублиматор USIFROID SMH-15
Лаборатория криохимических технологий наноматериалов Криохимический синтез веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов.)

Объем камеры 0,25 м3, остаточное давление 3-5 Па, интервал температур -60-80 oС

Система для характеризации наночастиц Malvern Zetasizer Nano ZS Система для характеризации наночастиц Malvern Zetasizer Nano ZS
Лаборатория реологии наноматериалов Построение распределения частиц по размерам для коллоидных растворов и суспензий св интервале от 0,6 нм до 6 мкм.

Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х103 до 2х107Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.

Лазерный анализатор частиц FRITSCH Analyzеtte 22 Лазерный анализатор частиц FRITSCH Analyzеtte 22
Лаборатория реологии наноматериалов Исследование распределения частиц по размерам: измеряемый размер частиц порошка 0,16 - 1160 мкм;

гелий-неоновый лазер 632 нм, мощность 5мВт; мультиэлементный детектор с 31 каналом

Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer Lambda 950 с оптической скамьей Сканирующий спектрофотометр УФ/Вид./БлИК-диапазона Perkin-Elmer Lambda 950 с оптической скамьей
Исследование абсорбционных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в УФ/Вид./БлИК-области спектра

Спектральный диапазон 175 nm - 3300 нм. Разрешение - не менее 0,05 - 5,00 нм с шагом 0,01 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,20 - 20,00 нм с шагом 0,04 нм (в БлИК-диапазоне). Точность установки длины волны - не хуже 0,08 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,3 (в БлИК-диапазоне). Воспроизводимость установки длины волны - не хуже 0,02 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,08 (в БлИК-диапазоне). Фотометрический диапазон - не менее 8А. Фотометрическая точность - не хуже 0,0006А (при 1А) и 0,0003А (при 0,5А). Фотометрическая воспроизводимость - не хуже 0,00016А (при 1А) и 0,00008А (при 0,5А). Фотометрическая линейность (щель 2 мм, время интегрирования - 1 мин) - не хуже 0,006А (при 1А) и 0,020А (при 3А). Фотометрический шум - не более 0,00010А (при 0А, 190 нм), 0,00005А нм (при 0А, 500 нм), 0,00004А (при 0А, 1500 нм), 0,00500А (при 6А, 500 нм).

Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia. Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia.
Лаборатория спектроскопических методов анализа Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов методом рамановской спектроскопии.

Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).

SQIUD магнетометр Cryogenic S700 с VSM модулем SQIUD магнетометр Cryogenic S700 с VSM модулем
Лаборатория магнитных исследований наноматериалов Исследование комплекса магнитных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов)

макс. внешнее магнитное поле до 7 Т, температурный интервал 1-350 К

Установка для измерения комплексной магнитной восприимчивости SCC
Исследование температурной зависимости магнитной восприимчивости веществ и материалов, в т.ч. наноматериалов

интервал температур 18-300К, напряженность поля 1-100 Э, частота (AC) магнитного поля 27 Гц

Масс-спектрометр Perkin-Elmer ELAN DRC-II Масс-спектрометр Perkin-Elmer ELAN DRC-II
Лаборатория масс-спектрометрии Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов

Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов, в т.ч. наноматериалов, Определение количественного состава по всем элементам, кроме H,C,N,O,F,Cl,) за один аналитический прогон с пределами обнаружения на уровне 0.1-5 ppt (0.1-510-6 мг/л). Кратковременная стабильность системы (RSD) при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течение 1 часа не более 2%. Долговременная стабильность системы (RSD при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течении 4 часов не более 3%.

Рентгеновский дифрактометр D/MAX-2500V/PC c вращающимся анодом ultraX 18 Рентгеновский дифрактометр D/MAX-2500V/PC c вращающимся анодом ultraX 18
Лаборатория рентгеновских методов анализа Проведение рентгенофазового и рентгенографического анализа веществ и материалов, в т.ч. наноструктурированных, в т.ч. при повышенных темп. до 1500С.

Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01о; интервал 2Θ 1-120 о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 оС до 1500 оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах

Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII Электронный просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2000 FXII
Лаборатория электронной микроскопии и электронно-дифракционных методов анализа наноматериалов Исследование микроструктуры и морфологии материалов, в т.ч. наноматериалов, в просвечивающим и сканирующих режимах

ускоряющее напряжение 200 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 0,3 нм

ЯМР-спектрометр Bruker AVANCE 400
Лаборатория направленного органического синтеза новых биологически активных наноматериалов (стр. 3, к.к. 307, 531) Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри-межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах.

Напряженность магнитного поля: 9,4 Тесла 

Рабочая частота на 1Н — 400 МГц. Датчик — широкополосный, инверсный с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм ампулы Диапазон частот от 109Ag до1Н (18МГц ÷ 400МГц) — 1H, 13С, 15N, 19F, 29Si, 31P, 77Se, 195Pt, и др. 

Температурная приставка (+25°С ÷ +100°С).

Настольная лиофильная сушка Advantage 2.0 ES-53
Лаборатория криохимических исследований наноматериалов (стр. 3, к. 133) Формирование наноматериалов: нанодиспергированных порошков.

Конденсор 2 л, диапазон температуры -50 +60 С. Контроллер Wizard 2.0

Сцинцилляционная система модель LS 6500 Сцинцилляционная система модель LS 6500
Лаборатория радионуклидной диагностики наносистем (стр. 10, к. 104) Изучение состава материалов, в т.ч. наноматериалов

Жидкостной сцинтилляционный счет, измерение α- и β - радиоактивности жид-ких и твердых веществ. Эффективность регистрации; 3Н: 60%; 14С: 95%. Воспроизво-димость: 1%. Максимальная скорость счета: 3Н - 107 dpm; 14С - 6-106 dpm; 32P - 2.8-106 dpm.

Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP
Лаборатория физико-химического анализа наносистем (стр. 3, к. 349) Исследование морфологии и микроструктуры наноматериалов.

Разрешение в высоком вакууме 3 нм, при низком вакууме 4.5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 10В. Увеличение в диапазоне 5 - 1 000 000х

Порошковый дифрактометр системы STOE STADI P Порошковый дифрактометр системы STOE STADI P
Лаборатория физико-химического анализа наносистем (стр. 3, к. 349) Исследование фазовых равновесий в многоком-понентных системах и кристаллической структуры наноматериалов, в том числе изменение параметров кристаллической решетки при замещении одних атомов на другие.

Чувствительность метода 1-3%. Диап. 10 -0.00001 нм.

Анализатор Z - потенциала BL - ZetaPlus
Лаборатория полимерных нанокомпозитов (стр. 40, к.к. 116, 119) Анализатор зета-потенциала, размера и молекулярного веса дисперсных частиц и полимеров.

Диапазон измерения проводимости: 10-9 - 10-7 м2/В×с; диапазон измерения размера 0,6 нм - 6 мкм; температурный контроль: 6 - 100ºС, ± 0,1ºС; угол рассеяния: 15 и 90º; объем пробы: 1-3 мл.

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Agilent 7500 Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой Agilent 7500
Аналитический центр (стр. 3А, Дворовый корпус) Количественный анализ сложных жидких и газовых смесей

Скорость газового потока через колонку - 1,0 - 2,0 мл/мин, Интервал температур 0-350°С. Макс.внутренний диаметр колонки 0,25-0,53 см Чувствительность до 10-14 г

Препаративный жидкостный хроматограф Agilent 1100 Препаративный жидкостный хроматограф Agilent 1100
Аналитический центр (стр. 3А, Дворовый корпус) Разделение и количественное определение органических и неорганических соединений в различных материалах.

Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10-5 ед.опт.плотности

Система капиллярного электрофореза и жидкостного хроматографа с масс-спектрометрическим детектором Система капиллярного электрофореза и жидкостного хроматографа с масс-спектрометрическим детектором
Аналитический центр (стр. 3А, Дворовый корпус) Исследование подвижностей ионов в электричес-ком поле и анализ заряженных соединений на основании различий в индивидуальных подвижностях а также разделение и количественное определение органических и неорганических соединений в живых организмах.

Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. масс-разрешение 0.01 ед.массы УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10-5 ед. опт. плотности.

ИК-Фурье спектрометр Tenzor 27 (2 шт.) ИК-Фурье спектрометр Tenzor 27 (2 шт.)
Лаборатория направленного неорганического синтеза наноматериалов (стр. 3, к. 166) ИК-Фурье спектроскопия

Исследование ИК спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ. Диапазон 400 - 7000 см-1, разрешение 1 см-1

ЭПР-спектрометр ELEXSYS E500-10/12 ЭПР-спектрометр ELEXSYS E500-10/12
Лаборатория химии атмосферы и наноматериалов (стр. 9, к. 110, 115, 119) Изучение каталитически активных веществ и композитов на основе переходных металлов путем регистрации спектров ЭПР.

Определение механизмов протекания каталитических процессов (регистрация спектров при различных температурах). Напряженность магнитного поля до 15000 Гаусс, диапазоны: 3 см (9.5 ГГц) и 8 мм (35 ГГц). Диаметр полюсов магнита 25 см, мощность 12 кВт. Напряженность магнитного поля до 15000 Гаусс. Два микроволновых диапазона: 3 см (9.5 ГГц) и 8 мм (35 ГГц). Система регулирования температуры от 4 до 300 К

Газовый хроматограф Agilent 6890N Газовый хроматограф Agilent 6890N
Лаборатория химии атмосферы и наноматериалов (стр. 9, к. 110, 115, 119) Количественный анализа сложных жидких и газовых смесей.

Температура источника 100-250°С
Чувствительность в режиме регистрации отдельных ионов до 10-15г. Время регистрации отдельного иона от 10 до 999 мс. Максимальная скорость сканирования 5200 а.е.м

Прибор синхронного термического анализа NETZSCH STA 449 C/4/G Jupiter Прибор синхронного термического анализа NETZSCH STA 449 C/4/G Jupiter
Лаборатория химии атмосферы и наноматериалов (стр. 9, к. 110, 115, 119) Изучение физико-химических и термических характеристик широкого круга веществ и материалов, в т.ч. комбинированных полимер-наноуглеродных фаз.

Диапазон температур от -120 и до 1650°С.

Микроанализатор поверхности Quantochrome Autosorb 1-C/TCD/MS Микроанализатор поверхности Quantochrome Autosorb 1-C/TCD/MS
Лаборатория химии атмосферы и наноматериалов (стр. 9, к. 110, 115, 119) Измерение величины свободной поверхности образцов, оценка размера пор, величины хемосорбции газов и жидкостей

Возможность проведения анализа в вакууме, динамическом или статистическом режиме, в диапазоне температур до 1100С. Диапазон измерения пор от 3,5 до 5000 Å, минимальный определяемый объем пор 0,0001 сс/g.

Квадрупольный масс-спектрометр NETZSCH 403C Aeolos Квадрупольный масс-спектрометр NETZSCH 403C Aeolos
Лаборатория химии атмосферы и наноматериалов (стр. 9, к. 110, 115, 119) Масс-спектроскопический анализ материалов (в т.ч. наноматериалов).

Прибор предназначен для анализа газовой фазы, имеет капиллярную систему ввода. Диапазон измеряемых масс от 1 до 300 а.е.м. Температура нагрева адаптера, капилляра и впускной системы квадрупольного масс-спектрометра 300°C.

Электрохимический комплекс IM6eX
Лаборатория электрохимических исследований наноматериалов ( стр. 3, к. Ц-07) Компьютерная система для электро-химической импеданс-спектроскопии наноматериалов.

Скорость сканирования - 1 мВ/c - 10 мВ/c, разрешение - 20 мс

Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 200 F3 Maya (3 шт.)
Лаборатория прогнозирования устойчивости наносистем (стр. 3, к. Ц-21) Рутинные калориметрические и термические исследования с параллельным определением гравипористости наноструктур. Изучение фазовых переходов, построение фазовых диаграмм. Термический анализ материалов.

Температурный диапазон -150 ... +600°C (зависит от используемой системы охлаждения) чувствительность: 3.6 ... 4.0 мкВ/мВт постоянная времени сенсора: ca. 2.5 с скорость нагревания: 0.001 ... 100 K/мин.

Термомикровесы TG 209 F1 Iris
Лаборатория прогнозирования устойчивости наносистем (стр. 3, к. Ц-21) Электромагнитные компенсационные микровесы с верхней загрузкой с разрешением в области 1 мкг. Измерение проб с навеской до 1 г.

Электромагнитные компенсационные микровесы с верхней загрузкой с разрешением в области 1 мкг. Измерение проб с навеской до 1 г. Температурный диапазон -20 … 1000оС, скорости нагревания: 0,001 … 100 К/мин

Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 204 F1 Phoenix Дифференциальный сканирующий калориметр DSC 204 F1 Phoenix
Лаборатория прогнозирования устойчивости наносистем (стр. 3, к. Ц-21) Прецизионные калориметрические и термические исследования с параллельным определением гравипористости наноструктур.

Изучение процесса термолиза металлоорганических соединений, анализ твердофазных превращений. Термический анализ материалов. диапазон -180 ... +700°C чувствительность: 3 ... 3,5 мкВ/мВт постоянная времени сенсора: 0,6 с диапазон скорости нагревания: 0.01 ... 99,99 K/ мин

Времяпролетный масс-спектрометр Autoflex II с ионизацией МАЛДИ Времяпролетный масс-спектрометр Autoflex II с ионизацией МАЛДИ
Лаборатория фотохромных наноматериалов (стр. 3, к.к. 212, 307, 310) Количественный масс-спектроскопический анализ материалов (в т.ч. наноматериалов).

Азотный лазер с частотой 50Hz, источник ионов с бесcеточными ускоряющими электродами, импульсная экстракция ионов (PIE™); бессеточный рефлектрон; селектор материнских ионов высокого разрешения

Жидкостной хроматомасс-спектрометр с двойной фокусировкой 1100LC Жидкостной хроматомасс-спектрометр с двойной фокусировкой 1100LC
Лаборатория фотохромных наноматериалов (стр. 3, к.к. 212, 307, 310) Анализ и исследование веществ и смесей веществ методом масс-спектрометрии с использованием ионизации при атмосферном давлении.

Диапазон масс 50-2200 (разрешение 0,1 ед. Массы) 2200-4000 (разрешение 4 ед массы).

Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов
Лаборатория электрофизических измерений Электрофизических измерения параметров наноструктур в т.ч. при низких температурах.

Диапазон температур: T=4 K - 450 K. Точность определения температуры: 1 К. Диапазон частот при измерениях на перемен-ном сигнале: f=5 Гц - 13 МГц. Точность регулировки частоты переменного сигнала: 1 Гц. Диапазон подаваемых напряжений: U=0 В - 500 В. Диапазон измеряемых токов на постоянном сигнале: I=10 фА - 20 мА. Диапазон измерения сопротивления на переменном сигнале: R=1 Ом - 1 МОм. Диапазон измерения емкости: С=1пФ - 100мФ. Диапазон измерения индуктивности: L=100нГн - 1000Гн.

Вакуум до 10-5 Торр. Криостаты: минимальная темп.: Тmin=4.2 К Время охл. до Тmin: T=65 мин. Точн. контроля 0.001 К

Шкафы вытяжные химические с подключением к вытяжной тяге Шкафы вытяжные химические с подключением к вытяжной тяге
Лаборатория технологии электрохимического наноструктурирования твердых тел Формирование наноматериалов.

Вытяжные шкафы серии C+ шириной 1500 мм и 1200 мм. Рабочая камера вентилируется через систему двойной стены - так называемые щели по всей ширине вытяжного шкафа, расположенные в нижней и верхней части рабочей камеры. Экран вытяжного шкафа из безопасных стекол.

Напылительная установка Sputter-Coater Напылительная установка Sputter-Coater
Лаборатория технологии напыления тонких пленок и многослойных наноструктур Формирование наноструктур и контактов для электрофизических измерений.

Скорость откачки 210 л/с, разрешение 0,1 нм, скорость напыления - до 1000 нм/с

Пикосекундный спектрофлуориметр Becker-Нickl в комплекте Пикосекундный спектрофлуориметр Becker-Нickl в комплекте
Лаборатория молекулярной спектроскопии Исследование оптических свойств материалов (в т.ч. наноматериалов) в видимом диапазоне с временным разрешением.

Лазеры с длиной волны 405 нм (50 пс) и 680 нм (50 пс). Система счета фотонов.

Cверхвысоковакуумный туннельный микроскоп/спектроскоп Omicron STM 1 на основе вакуумной системы MultiProbe S Cверхвысоковакуумный туннельный микроскоп/спектроскоп Omicron STM 1 на основе вакуумной системы MultiProbe S
Лаборатория нанооптики метаматериалов Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава поверхности наноматериалов.

Остаточное рабочее давление в камере микроскопа - не более 1*10^-10Торр, пьезоэлектрический манипулятор точных перемещений - триподного типа; максимальный диапазон перемещений 2.3мкм х 2.3мкм х 1.2мкм; возможность замены зондирующего острия и образцов in situ; возможность прямого и косвенного нагрева образца; высокоэффективная виброизоляционная система; электронный блок управления Scala SPM с программным обеспечением

Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H-PRO в комплекте Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H-PRO в комплекте
Лаборатория молекулярной спектроскопии Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов).

Поле сканирования 100х100 мкм, высота - 5 мкм, разр. сила выше 1 нм Контактный и полуконтактный режимы работы, токовая и силовая литография.

Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства «Интегра» Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства «Интегра»
Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии Исследование морфологии и микроструктуры материалов, в т.ч. наноматериалов

Максимальный диапазон сканирования 100x100x10 мкм. Уровень шума при сканировании по высоте 0.05 нм, в плоскости - 0.01 нм

Импульсный Nd:VAG лазер со встроенными генераторами второй и третьей гармоники и параметрическим генератором света Импульсный Nd:VAG лазер со встроенными генераторами второй и третьей гармоники и параметрическим генератором света
Лаборатория нанооптики метаматериалов Исследования оптических и нелинейно-оптических свойств материалов, в т.ч. наноматериалов.

На основной длине волны 1064 нм длительность импульса 10 нс, энергия до 1.5 Дж. На длинах волн второй (532 нм) и третьей (355 нм) гармоник энер-гия импульса до 800 и 350 мДж . Параметрический генератор света позволяет плавно перестраивать длину холостой волны от 1.1 до 2.5 мкм.

Микрозондовый комплекс LEO1455VP Микрозондовый комплекс LEO1455VP
Лаборатория электронной микроскопии Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)

Разрешение в высоком вакууме 4 нм, при низком вакууме 5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 15В. Увеличения в диапазоне 5 - 1 000 000х.

Дифрактометр STOE STADI P Дифрактометр STOE STADI P
Лаборатория рентгеноструктурного анализа Проведение рентгеноструктурного анализа; исследование кристаллической структуры наноматериалов.

Максимальная мощность 3600 Вт, ток трубки 0 - 80 мА, напряжение 10 - 650 кВ. Мин. Шаг 0.0001о, воспроизводимость 0.0005о, длиапазон 2θ: -90о - 140о, в компл. с криостатом замкнутого цикла температурный диапазон 5 - 800К

Спектральный комплекс на базе спектрографа SOLAR TII и монохроматора МДР 12 для исследования оптических свойств наноматериалов Спектральный комплекс на базе спектрографа SOLAR TII и монохроматора МДР 12 для исследования оптических свойств наноматериалов
Лаборатория фотолюминесцентной спектроскопии наноструктур Высокочувствительная система регистрации люминесценции в видимой, ближней и инфракрасной областях спектра для комплексного исследования спектров и кинетик фотолюминесценции (ФЛ) наноматериалов. Монохроматор-спектрограф SOLAR TII (MS 35041): турель с 4 - мя дифракционными решетками, спектральное разрешение - 0.1 нм, дисперсия - 2,37 нм/мм. Монохроматор МДР 12: измерение кинетик ФЛ. Дифракционные решетки 600 ш/мм, 1200 ш/мм. 
Охлаждаемая ПЗС-матрица на видимый диапазон: диапазон чувствительности 0.2 - 1.1 мкм, максимальная квантовая эффек-тивность - 90%, размер матрицы - 1024x122 элементов, размер фоточувствительного элемента 24х24 мкм. InGaAs охлаждаемая ПЗС-матрица: диапазон чувствительности 0.9 - 1.7 мкм, максимальная квантовая эффективность - 70%, размер матрицы - 1024x1 элементов. 
Фотоэлектронный умножитель ИК-диапазона H9170-75: измере-ние кинетик ФЛ. Материал катода InP/InGaAs, диапазон измеряемых длин волн 950 - 1700 нм, временное разрешение 3 нс. Полоса пропускания широкополосного предусилителя 50 МГц.
Фотоэлектронный умножитель видимого диапазона: измерение кинетик ФЛ, диапазон измеряемых длин волн 400 - 900 нм, временное разрешение 1 нс. Гелиевый криостат замкнутого цикла: интервал температур 10-350К. 
Лазеры: азотный - длина волны 337 нм, ширина линии 0.1 нм, энергия в импульсе 400 мкДж, длительность импульса 800 пс. Эксимерный - рабочая смесь KrF, длина волны 248 нм, энергия в импульсе 40 мДж, длительность импульса 10 нс. Аргоновый - длины волн 457, 477, 488, 496, 502, 514 нм, мощности 30, 20, 80, 30, 10, 78 мВт соответственно. На парах меди - энергии фотонов 2.43 эВ и 2.14 эВ, длительность импульса 20 нс, частота 12 кГц, средняя мощность 2.5 Вт. Твердотельный с полупроводниковой накачкой на основе YAG:Nd - длина волны излучения 473 нм, макс. мощность 42 мВт. Полупроводниковый диодный - длина волны излучения 1534,25 нм. Гелий-неоновый - длина волны излучения 633 нм.

Оборудование 1 - 83 из 83
Начало | Пред. | 1 | След. | Конец По стр.
 
     
     


Лаборатория инфракрасной фурье спетроскопии