Исследование электронных свойств и адсорбированных комплексов на поверхности наноструктур. Диап. 400 - 4000 cм^-1, разрешение 1 см^-1

Вакуумный, диапазон 40 - 12000 см^-1, разрешение 0.5 см^-1, приставки абсолютного отражения, отражения с переменным углом, МНПВО

Остаточн. давл.: P=10^-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 ⁰С

Мин. пористость от 5 А.

вакуум до 10-2 Торр, нагрев образца до 150 °С с точностью до 0.05 °С ,с регулируемым внешним магнитным полем до 0.2 T

 Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры

Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см^-1. Разрешение 0,5 см^-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1

в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/

Растровый электронный микроскоп LeoSupra 50 VP 

ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии K_α(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Комплект переоснащения имеющегося растрового электронного микроскопа LEO Supra 50VP 

Безазотный энергодисперсионный спектрометр для рентгеноспектрального микроанализа к растровому электронному микроскопу LeoSupra 50 VP

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Диапазон температур 20-1500^оС; Скорость нагрева 0.01-100^оС/мин; чувствительность 0.2 мкг, 0.06 мкВ; атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум (до 2 Торр), cкорость потока газа 0 - 1000 мл/мин

 Объем камеры 0,3 м³, остаточное давление 3-5 Па, интервал температур -50-95 ^oС. Коллектор из нержавеющей стали с тефлоновым покрытием объёмом 18 л. Скорость удаления воды 10л/сутки.

Дозатор для исследования твердых образцов методом атомно-эмиссионной спектроскопии. мощность лазера 18 МВт

Длина волны возб. 1.06 мкм, 400 мВт Nd:YAG

Диапазон 50 - 25000 см^-1, разрешение 0.25 см^-1

Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.

Ar-laser (458, 477, 488, 514 nm, 30mW) HeNe-laser, 543 nm, 1 mW

HeNe laser, 633nm, 5mW. Область сканирования от 18 мм в зависимости от объектива. Шаг по оси Z - 25 нм.

Одновременная детекция в 3 каналах. Каждый канал имеет свой пинхол. 32-канальный МЕТА-детектор для быстрого сканирования лямбда-треков. Скорость сканирования от 5 кадров/с при разрешении 512х512 до 77 кадров/с при разрешении 512х32. Мультитайм-серия. 3D-деконволюция. Топография 3D-структур, построенных на основе оптических срезов.

Толщина срезов от 1- 4 мкм (полутонкие) и 30 -100 нм (ультратонкие).

Фотометрический диапазон отображения от -8 А до 8А

Фотометрический диапазон измерения от -3 А до 3 А

Точность длины волны - лучше, чем ±0,3 нм

Воспроизводимость длины волны - лучше чем ±0,1 нм

Фотометрическая точность ±0,003 А, при А=1

Фотометрическая воспроизводимость ±0,0003 А, при А=1

ICS-оптика, общее увеличение 12,5-3200х

Методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК и С-ДИК, поляризация, люминесценция
Системы увеличения изображения: система «Оптовар» 1,6х и 2х
Объективы Эпи-План Неофлюар от 1,25х до 100х
Окуляры: 10х/25; 16х/16

Методы исследования: светлое и темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, дифференциально - интерференционный контраст, люминесценция Объективы: Ахроплан , План-Неофлюар, План-Апохромат, Флюар (1,25х; 2,5х; 4х; 10х; 20х; 40х; 40хМИ; 63х; 63хМИ; 100хМИ)

Длины волн возбуждения 488 и 633 нм. Возможность работы с одиночными пробирками и с каруселью (до 32 образцов). Возможность одновременной регистрации до 5 флуорофоров и двух параметров светорассеяния. Измерения на объектах размером от 0,5 до 40 мкм Чувствительность каналов регистрации флуоресценции: от 600 молекул флуоресцеина на 1 объект; от 300 молекул фикоэритрина на 1 объект. Максимальная скорость считывания 3300 событий/сек

Максимальное выходное напряжение ± 30 В; диапазон потенциала ±10 В. Максимальный ток на выходе (потенциостат/гальваностат) ± 2 А, возможно расширение диапазона до ±20 А при использовании дополнительного модуля. 9 диапазонов тока в интервале (10 нA - 1 А). Заданная погрешность потенциала ±0.2% установки ±2 мВ; Заданное разрешение потенциала - 150 мкВ; Измеряемое разрешение потенциала - 30 мкВ; Скорость развертки потенциала - 250 В/c. Заданная и измеряемая погрешность тока - ± 0.2% тока и ± 0.2% диапазона тока; Заданное разрешение тока - 0.03% диапазона тока; Измеряемое разрешение тока - 0.0003% диапазона тока (в 10нА диапазоне измеряемое разрешение тока - 30 фА). Полоса частот потенциостата - 1 МГц; Время нарастания/спада сигнала потенциостата (шаг 1В) < 250 нс; Вход. импеданс электрометра: > 1 ТОм/< 8 пФ; Ток смещения на входе 25ºC: < 1 пА; 

Полоса частот электрометра: > 4 МГц. Рабочие частоты: 1 МГц - 10 мкГц; Диапазон амплитуд переменного сигнала 0.2 - 350 мВ Разрешение по частоте - 0,003%.

2х, 3х или 4х электродная ячейка РЭ. Интервал сопротивлений 0.1Ом - 1MОм; Интервал по току 2A - 200нA; Точность 0.1%±0.05%R; Контрэлектрод: Интервал по напряжению ±15V; макс. ток 2A; Предел ошибки 0.1% ±100µV; Импульсный режим, DC, AC, Импеданс: частотный диапазон 10 мкГц - 1МГц; макс потенциал 46 В; Амплитуда переменного сигнала 1-3000 мВ

Пиковая скорость обработки данных более 70 гигафлопа. Емкость системы хранения информации более 5 терабайт.

Оборудование для модернизации серверной и сетевой инфраструктуры ФНМ

Рабочее давление до 240 атмосфер, рабочая температура до 350 ^оС. Рабочий объем - 100 мл.

Позволять работать с любыми подложками размером до 210х300 мм, толщиной до 25 мм и весом до 1 кг.

Содержание кислорода мене 1 ppm и влаги - менее 5 ppm.

Диапазон температур 20-350^оС, скорость нагрева до 20 ^оС/сек, навеска до 10 мг, различные газовые атмосферы.

Предел детектирования - не хуже 510^-5 об.доля, % по метану, Чувствительность к Н2, Ar, O2, N2, Kr, Xe, СН4, СО, СО2 - не хуже 1 ppb. Парофазная приставка.

Объем камеры 0,25 м³, остаточное давление 3-5 Па, интервал температур -60-80 ^oС

Измерение дзета-потенциала частиц размером 5 нм - 10 мкм. Измерение абсолютной молекулярной массы в диапазоне от 1х10³ до 2х10⁷Дальтон. Возможность проведения измерений при высоких концентрациях пигментов, чернил, эмульсий. Высокая чувствительность позволяет производить измерения в сильно разбавленных растворах белков и полимеров.

гелий-неоновый лазер 632 нм, мощность 5мВт; мультиэлементный детектор с 31 каналом

Спектральный диапазон 175 nm - 3300 нм. Разрешение - не менее 0,05 - 5,00 нм с шагом 0,01 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,20 - 20,00 нм с шагом 0,04 нм (в БлИК-диапазоне). Точность установки длины волны - не хуже 0,08 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,3 (в БлИК-диапазоне). Воспроизводимость установки длины волны - не хуже 0,02 нм (в УФ/Вид-диапазоне) и 0,08 (в БлИК-диапазоне). Фотометрический диапазон - не менее 8А. Фотометрическая точность - не хуже 0,0006А (при 1А) и 0,0003А (при 0,5А). Фотометрическая воспроизводимость - не хуже 0,00016А (при 1А) и 0,00008А (при 0,5А). Фотометрическая линейность (щель 2 мм, время интегрирования - 1 мин) - не хуже 0,006А (при 1А) и 0,020А (при 3А). Фотометрический шум - не более 0,00010А (при 0А, 190 нм), 0,00005А нм (при 0А, 500 нм), 0,00004А (при 0А, 1500 нм), 0,00500А (при 6А, 500 нм).

Спектрометр inVia Reflex: фокусное расстояние 250 мм, размер пятна лазера 1 - 300 мкм, дифракционные монохроматоры 3600, 2400 и 1200 штрихов/мм, CCD-детектор 576х384 пикселей с Пельтье-охлаждением до -70 С. Конфокальный микроскоп Leica DMLM с разрешением до 2,5 мкм. Лазеры 785, 633, 514 и 244 нм. Высокотемпературный предметный столик (до 1500 С).

Комплект лазеров и дополнительных комплектующих для имеющегося Рамановского спектрометра Renishaw в комплексе Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex

макс. внешнее магнитное поле до 7 Т, температурный интервал 1-350 К

интервал температур 18-300К, напряженность поля 1-100 Э, частота (AC) магнитного поля 27 Гц

Исследование элементного состава (включая изотопный состав) материалов, в т.ч. наноматериалов, Определение количественного состава по всем элементам, кроме H,C,N,O,F,Cl,) за один аналитический прогон с пределами обнаружения на уровне 0.1-5 ppt (0.1-5 10^-6 мг/л). Кратковременная стабильность системы (RSD) при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течение 1 часа не более 2%. Долговременная стабильность системы (RSD при количественном анализе образцов с содержанием 1 мкг/л 4-6 элементов в течении 4 часов не более 3%.

https://istina.msu.ru/equipment/card/537121965/

• Порошковый рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом Rigaku D/MAX-2500 PC
• Комплексная система хранения и обработки экспериментальных данных с системой коммутации
• Комплект дополнительного оборудования и запасных частей для рентгеновского дифрактометра с вращающимся анодом

Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0,01^о; интервал 2Θ 1-120 ^о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 ^оС до 1500 ^оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах.

ускоряющее напряжение 200 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 0,3 нм

Напряженность магнитного поля: 9,4 Тесла 

Рабочая частота на ¹Н — 400 МГц. Датчик — широкополосный, инверсный с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм ампулы Диапазон частот от ¹⁰⁹Ag до¹Н (18МГц ÷ 400МГц) — ¹H, ¹³С, ¹⁵N, ¹⁹F, ²⁹Si, ³¹P, ⁷⁷Se, ¹⁹⁵Pt, и др. 

Температурная приставка (+25°С ÷ +100°С).

Конденсор 2 л, диапазон температуры -50 +60 С. Контроллер Wizard 2.0

Жидкостной сцинтилляционный счет, измерение α- и β - радиоактивности жид-ких и твердых веществ. Эффективность регистрации; ³Н: 60%; ¹⁴С: 95%. Воспроизво-димость: 1%. Максимальная скорость счета: ³Н - 107 dpm; ¹⁴С - 6-106 dpm; ³²P - 2.8-106 dpm.

Разрешение в высоком вакууме 3 нм, при низком вакууме 4.5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 10В. Увеличение в диапазоне 5 - 1 000 000х

Чувствительность метода 1-3%. Диап. 10 -0.00001 нм.

Диапазон измерения проводимости: 10^-9 - 10^-7 м²/В×с; диапазон измерения размера 0,6 нм - 6 мкм; температурный контроль: 6 - 100ºС, ± 0,1ºС; угол рассеяния: 15 и 90º; объем пробы: 1-3 мл.

Скорость газового потока через колонку - 1,0 - 2,0 мл/мин, Интервал температур 0-350°С. Макс.внутренний диаметр колонки 0,25-0,53 см Чувствительность до 10^-14 г

Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10-5 ед.опт.плотности

Исследование спектральных и адсорбционных свойств веществ, разделение и количественное определение соединений, в том числе и микропримесей в нанокомпозитных материалах. масс-разрешение 0.01 ед.массы УФ-диапазон 190-400 нм, шум нулевой линии до 10^-5 ед. опт. плотности.

Исследование ИК спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ. Диапазон 400 - 7000 см^-1, разрешение 1 см^-1

Определение механизмов протекания каталитических процессов (регистрация спектров при различных температурах). Напряженность магнитного поля до 15000 Гаусс, диапазоны: 3 см (9.5 ГГц) и 8 мм (35 ГГц). Диаметр полюсов магнита 25 см, мощность 12 кВт. Напряженность магнитного поля до 15000 Гаусс. Два микроволновых диапазона: 3 см (9.5 ГГц) и 8 мм (35 ГГц). Система регулирования температуры от 4 до 300 К

Температура источника 100-250°С
Чувствительность в режиме регистрации отдельных ионов до 10^-15г. Время регистрации отдельного иона от 10 до 999 мс. Максимальная скорость сканирования 5200 а.е.м

Диапазон температур от -120 и до 1650°С.

Возможность проведения анализа в вакууме, динамическом или статистическом режиме, в диапазоне температур до 1100С. Диапазон измерения пор от 3,5 до 5000 Å, минимальный определяемый объем пор 0,0001 сс/g.

Прибор предназначен для анализа газовой фазы, имеет капиллярную систему ввода. Диапазон измеряемых масс от 1 до 300 а.е.м. Температура нагрева адаптера, капилляра и впускной системы квадрупольного масс-спектрометра 300°C.

Скорость сканирования - 1 мВ/c - 10 мВ/c, разрешение - 20 мс

Температурный диапазон -150 ... +600°C (зависит от используемой системы охлаждения) чувствительность: 3.6 ... 4.0 мкВ/мВт постоянная времени сенсора: ca. 2.5 с скорость нагревания: 0.001 ... 100 K/мин.

Электромагнитные компенсационные микровесы с верхней загрузкой с разрешением в области 1 мкг. Измерение проб с навеской до 1 г. Температурный диапазон -20 … 1000^оС, скорости нагревания: 0,001 … 100 К/мин

Изучение процесса термолиза металлоорганических соединений, анализ твердофазных превращений. Термический анализ материалов. диапазон -180 ... +700°C чувствительность: 3 ... 3,5 мкВ/мВт постоянная времени сенсора: 0,6 с диапазон скорости нагревания: 0.01 ... 99,99 K/ мин

Азотный лазер с частотой 50Hz, источник ионов с бесcеточными ускоряющими электродами, импульсная экстракция ионов (PIE™); бессеточный рефлектрон; селектор материнских ионов высокого разрешения

Диапазон масс 50-2200 (разрешение 0,1 ед. Массы) 2200-4000 (разрешение 4 ед массы).

Диапазон температур: T=4 K - 450 K. Точность определения температуры: 1 К. Диапазон частот при измерениях на перемен-ном сигнале: f=5 Гц - 13 МГц. Точность регулировки частоты переменного сигнала: 1 Гц. Диапазон подаваемых напряжений: U=0 В - 500 В. Диапазон измеряемых токов на постоянном сигнале: I=10 фА - 20 мА. Диапазон измерения сопротивления на переменном сигнале: R=1 Ом - 1 МОм. Диапазон измерения емкости: С=1пФ - 100мФ. Диапазон измерения индуктивности: L=100нГн - 1000Гн.

Вакуум до 10^-5 Торр. Криостаты: минимальная темп.: Т_min=4.2 К Время охл. до Т_min: T=65 мин. Точн. контроля 0.001 К

Вытяжные шкафы серии C+ шириной 1500 мм и 1200 мм. Рабочая камера вентилируется через систему двойной стены - так называемые щели по всей ширине вытяжного шкафа, расположенные в нижней и верхней части рабочей камеры. Экран вытяжного шкафа из безопасных стекол.

Скорость откачки 210 л/с, разрешение 0,1 нм, скорость напыления - до 1000 нм/с

Лазеры с длиной волны 405 нм (50 пс) и 680 нм (50 пс). Система счета фотонов.

Остаточное рабочее давление в камере микроскопа - не более 1*10^-10Торр, пьезоэлектрический манипулятор точных перемещений - триподного типа; максимальный диапазон перемещений 2.3мкм х 2.3мкм х 1.2мкм; возможность замены зондирующего острия и образцов in situ; возможность прямого и косвенного нагрева образца; высокоэффективная виброизоляционная система; электронный блок управления Scala SPM с программным обеспечением

Поле сканирования 100х100 мкм, высота - 5 мкм, разр. сила выше 1 нм Контактный и полуконтактный режимы работы, токовая и силовая литография.

Максимальный диапазон сканирования 100x100x10 мкм. Уровень шума при сканировании по высоте 0.05 нм, в плоскости - 0.01 нм

• Ипульсныйй Nd:YAG лазер с параметрическим генератором света с синхрониз. модами. Импульсный Nd:VAG лазер со встроенными генераторами второй и третьей гармоники и параметрическим генератором света. На основной длине волны 1064 нм длительность импульса 10 нс, энергия до 1.5 Дж. На длинах волн второй (532 нм) и третьей (355 нм) гармоник энер-гия импульса до 800 и 350 мДж . Параметрический генератор света позволяет плавно перестраивать длину холостой волны от 1.1 до 2.5 мкм. 
• Наносекундный лазер Solar LS LQ629

Разрешение в высоком вакууме 4 нм, при низком вакууме 5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 15В. Увеличения в диапазоне 5 - 1 000 000х.

Максимальная мощность 3600 Вт, ток трубки 0 - 80 мА, напряжение 10 - 650 кВ. Мин. Шаг 0.0001^о, воспроизводимость 0.0005^о, длиапазон 2θ: -90^о - 140^о, в компл. с криостатом замкнутого цикла температурный диапазон 5 - 800К