Центр коллективного пользования МГУ им. М.В. Ломоносова

Оборудование

Микромир

Наименование:
Производитель:
Год выпуска с:	по:
Технические характеристики:

Наименование	Лаборатория	Назначение	Технические характеристики
Инфракрасный спектрометр BRUKER IFS-66v /S в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния	Лаборатория колебательной спектроскопии	Исследование структурных свойств, линейно-оптических характеристик, электронных свойств, адкомплексов на поверхности наноструктур.	Вакуумный, диапазон 40 - 12000 см^-1, разрешение 0.5 см^-1, приставки абсолютного отражения, отражения с переменным углом, МНПВО
Микрораман LabRAM HR Visible	Лаборатория колебательной спектроскопии	Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов, в том числе наноматериалов.	Используемые лазеры возбуждения: 633 и 488 нм, решетка: 1800 штр/мм, диапазон от -5000 до 5000 обр. см, картографирование
Спектрометр электронного парамагнитного резонанса ELEXSYS-E500-10/12	Лаборатория ЭПР спектроскопии	Исследование структурных дефектов в наноматериалах.	Спектрометр: рабочая частота 9,6 ГГц, H_max =1 Тл. Чувствительность 510¹⁴ спин/Тл. Осветитель:* исследование фотоиндуцированных процессов с участием дефектов в полупроводни-ковых структурах, в т.ч. наноструктурах. Источник питания: обеспечение бесперебойной работы ЭПР-спектрометра после прекращения подачи электроэнергии в течение 40 мин, фильтр защиты от высокочастотных помех.
Вакуумный универсальный пост ВУП-5М	Лаборатория технологии формирования наноструктур	Напыление различных покрытий и формирование контактов для электрофизических измерений.	Остаточн. давл.: P=10^-4 Па. Ток накала испарителя: I=200 A. Макс. темп. нагрева образца: Т=1100 ⁰С
Субтераваттный фемтосекундный комплекс на основе хром-форстеритового лазера	Лаборатория оптической характеризации наноструктур методами микроспектроскопии	Исследование оптических и нелинейно-оптических свойств материалов, в том числе наноматериалов.	Фемтосекундный лазерный комплекс: Длительность импульса на выходе не более 100 фс. Энергия лазерного импульса до 4 мДж (1,25 мкм), до 400 мкДж (в диапазоне 0,9 - 1,5 мкм). Плавная перестройка длины волны в диапазоне от 0.9 до 10 мкм. Пикосекундный лазер: На основной длине волны 1,064 мкм длительность импульса около 35 пс, энергия до 50 мДж. На длине волны второй гармоники 0,532 мкм энергия импульса до 25 мДж. Система регистрации: в т.ч. для исследования оптических сигналов в видимом и инфракрасном диапазонах (0,6 - 1,7 мкм) и их кинетик, временное разрешение 3 нс.
Aнализатор поверхности Quantachrome NOVA 4200e	лаборатория материаловедения	Определение удельной поверхности и распределения пор по размерам пористых материалов.	Мин. пористость от 5 А.
Металлографический микроскоп Eclipse 600pol с термостатируемым держателем	лаборатория материаловедения	Исследование микроструктуры материалов при температурах до 1500 С	Режимы: просвет и отраже-ние; увеличение 1000 крат, разрешение до 0,5 мкм, поляризация, цифровой вывод, диафрагма, темное поле, дифференциально-интерференцион-ный контраст, барабанные объективы, светофильтры
ИК-спектрофотометр Perkin-Elmer Spectrum One	лаборатория материаловедения	Исследование оптических свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов) в инфракрасной области спектра Оптика KBr.	Жидкостная кювета. Спектральный диапазон 7800-350 см^-1. Разрешение 0,5 см^-1. Регулируемое время набора статистики. Соотношение Сигнал/Шум > 24000/1
УФ-видимый спектрофотометр Lambda 35	лаборатория материаловедения	Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).	в УФ- и видимой области спектра Интегрирующая сфера для СДО. Приставка регулируемого угла падения. Спектральный диапазон 190-1100 нм. Разрешение 0,05 нм. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Регулируемая щель 0,5, 1, 2, 4 нм. Соотношение сигнал/шум > 12500/
Растровый электронный микроскоп LeoSupra 50 VP c безазотным энергодисперсионным спектрометром для рентгеноспектрального микроанализа переоснащенный [0294-44-2022, 0397-44-2022]	лаборатория материаловедения	Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)	Растровый электронный микроскоп LeoSupra 50 VP ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 600000; разрешение <1 нм; разрешение EDX детектора 129 эВ на линии K_α(Mn), скорость счета до 100000 имп/с Комплект переоснащения имеющегося растрового электронного микроскопа LEO Supra 50VP Безазотный энергодисперсионный спектрометр для рентгеноспектрального микроанализа к растровому электронному микроскопу LeoSupra 50 VP
Люминесцентный спектрометр LS-55 фирмы Perkin Elmer в комплекте с приставками	лаборатория материаловедения	Исследование абсорбционных и люминесцентных свойств веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов).	Приставка для измерения люминесценции твердых тел. 2 монохроматора. Точность установки длины волны ±0,1 нм. Спектральный диапазон 200-900 нм; Разрешение 0,5 нм. Регулируемая щель 2,5-10 нм. Соотношение сигнал/шум > 1000/1.
Комплекс дифференциальнотермичес-кого и термогравиметрического анализа Diamond Pyris TG/DTA	лаборатория материаловедения	Проведение полного дифференциальнотермического и термогравиметрического анализа веществ и материалов (в т.ч. наноматериалов)	Диапазон температур 20-1500^оС; Скорость нагрева 0.01-100^оС/мин; чувствительность 0.2 мкг, 0.06 мкВ; атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум (до 2 Торр), cкорость потока газа 0 - 1000 мл/мин
КР-спектрометр EQUINOX 55 в комплекте с приставкой комбинационного рассеяния FRA 106/S		Исследование структурных свойств и фононного спектра материалов (в т.ч. наноматериалов).	Длина волны возб. 1.06 мкм, 400 мВт Nd:YAG
ИК-Фурье спектрометр Equinox-55 с приставкой комбинационного рассеяния FRA-106/S		Исследование электронных и колебательных (ИК и КР) спектров газообразных, жидких и кристаллических веществ.	Диапазон 50 - 25000 см^-1, разрешение 0.25 см^-1
Комплекс флуоресцентной микроскопии полного внутреннего отражения с возможностью использования схем внешнего возбуждения и возбуждения через микрообъектив [1205-2011]	Лаборатория оптической характеризации наноструктур методами микроспектроскопии		1. Длина волны лазера для возбуждения люминесценции: 488 нм. 2. Мощность лазерного излучения: 5,5 мВт. 3. Количество осей системы юстировки лазера: 3. 4. Рабочее расстояние микрообъектива 20х: 0,6 мм. 5. Числовая апертура микрообъектива 20х: 0,75. 6. Рабочее расстояние микрообъектива 60-63х: 0,1 мм. 7. Числовая апертура микрообъектива 60-63х: 1,49. 8. Диапазон корректировки толщины покровного стекла: 0,13-0,19. 9. Рабочее расстояние микрообъектива 100х: 0,1 мм. 10. Числовая апертура микрообъектива 100х: 1,65. 11. Рабочее расстояние микрообъектива 150х: 0,07 мм. 12. Числовая апертура микрообъектива 150х: 1,45. 13. Количество дополнительных оптических портов с возможностью установки цифровых и видеокамер для регистрации изображений: 9. 14. Количество каналов конденсора: 2. 15. Рабочие длины волн возбуждающего излучения, допускаемые оптической системой: 400-440 нм, 488 нм, 543 нм, 633 нм. 16. Программное обеспечение для управления системой от компании производителя микроскопа: наличие. 17. Программный модуль для создания и визуализации эксперимента в виде блок-схем с возможностью установки взаимосвязей и последовательностей действий: наличие. 18. Высокочувствительная цифровая черно-белая камера: наличие. 19. Размер чипа матрицы камеры: 2/3”. 20. Размер матрицы: 1376 x 1032 пикселей. 21. Размер одного пикселя: 6,45 x 6,45 µm. 22. Динамический диапазон: 14 бит. 23. Наличие режимов биннинга: 1х, 2х, 4х. 24. Интерфейс передачи данных: IEEE-1394, FireWire. 25. Встроенный в камеру триггер: наличие. 26. Специализированный осветитель для реализации метода микроскопии полного внутреннего отражения: наличие. 27. Наличие функции моторизованного изменения угла падения лучей для достижения эффекта полного внутреннего отражения: наличие. 28. Микроскоп медицинский инвертированный для лабораторных исследований: наличие. 29. Управляющее программное обеспечение, позволяющее оператору управлять прибором с одновременным отображением состояния микроскопа в программе: наличие. 30. Общие габаритные размеры системы: 1500 мм х 1250 мм х 1650 мм.
Комплекс оптической характеризации наноструктур методами микроспектроскопии	Лаборатория оптической характеризации наноструктур методами микроспектроскопии		Суперконтинуум с акустооптическим перестраиваемым модулем фильтрации [0848-44-2020] Пространственный фазовый модулятор света [0848-44-2020] Оптический микроскоп [1089-44-2020] Фемтосекундная лазерная система "Фемтоника" [0429-44-2023] Спектрометр инфракрасного диапазона (ПНР-23) Оптическая зондовая станция для интегральных схем [0814-44-2023] Фемтосекундный титан-сапфировый осциллятор [0935-44-2018] Инфракрасная камера [0069-44-2019] Профилометр светового пучка [0053-44-2019] Спектрометр видимого диапазона [0053-44-2019] Монохроматор-спектрограф с высоким спектральным разрешением [0259-44-2022] Комплекс оборудования чистого помещения [0967-44-2023] Фемтосекундный оптический параметрический усилитель [0779-44-2024] Набор пьезотрансляторов для гелиевого криостата замкнутого цикла [0826-44-2024]
Комплекс оборудования для молекулярной филогенетики и сравнительной транскриптомики	Лаборатория био-микроскопии
Прибор для капиллярного гель-электрофореза нуклеиновых кислот и белков Qsep1-Plus [0363-44-2024]	Лаборатория био-микроскопии
Установка для флуоресцентного имиджинга одиночных молекул в растворах, гелях и блотах [0727-44-2020]	Лаборатория био-микроскопии
Ожижитель азота с сосудом Дьюара [0745-44-2020]	Лаборатория био-микроскопии

Фотогалерея

Лаборатория фотолюминесцентной спектроскопии

Все фото...

А знаете ли Вы
Что такое метод электронного парамагнитного резонанса?